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J-GLOBAL ID：201802218768667997   整理番号：18A2041117

混合信号試験自動化:我々はまだ存在するか?【JST・京大機械翻訳】

Mixed-signal test automation: Are we there yet?

著者 (2件)： Leger Gildas (CSIC-Universidad de Sevilla, Av. Ame ́rico Vespucio s/n, Instituto de Microlectro ́nica de Sevilla, 41092 Sevilla,Spain) ,  Barragan Manuel J. (CNRS, Grenoble INP TIMA, Univ. Grenoble Alpes, F-38000 Grenoble, France)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2018  号： ISCAS  ページ： 1-5  発行年： 2018年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： テストアナログ,混合信号およびRF(AMS-RF)回路は,複雑なSoCをテストするための重要なコスト成分を表す。さらに,AMS-RFテスト生成と検証は,それぞれの特別な装置(DUT)に対する専門家の設計知識に依存する,依然として大きく手作業されているタスクである。混合信号試験自動化は,過去数十年間の試験コミュニティにより求められ,ディジタル試験アプローチの成功を模倣しようとしている。実際,ディジタル領域において,試験は非常に自動化され,標準技術は既に利用可能である(ATPG,BIST,走査レジスタなど)。過去10年間において,機械学習アルゴリズムの電力を活用することに基づく方法論が,より高いレベルの自動化にドアを開くAMS-RF回路に対して提案されている。本論文では,このラインにおける最近の結果をレビューし,そのような完全な方法論と何が行われているかをまとめた。Copyright 2018 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： コミュニティ ,  電力 ,  BIST ,  ディジタル方式 ,  レジスタ ,  アナログ系 ,  走査 ,  学習アルゴリズム ,  *自動化
準シソーラス用語： ATPG ,  設計知識 ,  テスト生成 ,  システムオンチップ ,  *混合信号 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 図形・画像処理一般  (JE04010I)

タイトルに関連する用語 (3件)： 混合信号 ,  試験 ,  自動化