Shemet Mikhail V. について
D. I. Mendeleyev Institute for Metrology (VNIIM), St. Petersburg, Y.P., Russia について
Semenov Yuri P. について
D. I. Mendeleyev Institute for Metrology (VNIIM), St. Petersburg, Y.P., Russia について
Krivitskaya Elena V. について
D. I. Mendeleyev Institute for Metrology (VNIIM), St. Petersburg, Y.P., Russia について
IEEE Conference Proceedings について
図形・画像処理一般 について
トロイダルコイル について
インダクタンス について
模倣 について