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J-GLOBAL ID:201802219343108401   整理番号:18A0520105

誘導プローブを用いた変圧器の巻線欠陥解析に及ぼす温度の影響【Powered by NICT】

Influence of temperature on transformer’s winding defect analysis using inductive probes
著者 (6件):
資料名:
巻: 2017  号: PIERS - FALL  ページ: 2285-2289  発行年: 2017年 
JST資料番号: W2441A  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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巻線欠陥は,変圧器の巻線インダクタンスと静電容量を変化させた。インダクタンスとキャパシタンスのこれらの偏差は,変圧器のインピーダンスの周波数応答に反映している。非破壊周波数応答解析(FRA)法は,これらの変化を同定するために数十年間使用されてきた。事実,変圧器の周波数応答は,温度,油,湿度,汚染,油粘度,重合度などのような多くのパラメータにより影響することができた。誘導結合プローブ法を用いた変圧器のオンラインFRAに及ぼす温度の影響を調べた。単相ステップダウン変圧器を採用した。変圧器の温度は誘導結合法を用いて各温度値のために抽出された変圧器の温度室と周波数応答を用いた異なる運転条件で変化した。実験結果は,変圧器のオンラインFRAに及ぼす温度の影響を同定するために提示し,議論した。Copyright 2018 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】
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分類 (1件):
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変圧器 
タイトルに関連する用語 (5件):
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