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J-GLOBAL ID：201802219556803499   整理番号：18A2034976

高密度プラズマにおける線シフト測定のための高分解能,高SN比結晶スペクトロメータ【JST・京大機械翻訳】

High resolution, high signal-to-noise crystal spectrometer for measurements of line shifts in high-density plasmas

著者 (12件)： Beiersdorfer P. (Physics Division, Lawrence Livermore National Laboratory, Livermore, California 94550, USA) ,  Magee E. W. (Physics Division, Lawrence Livermore National Laboratory, Livermore, California 94550, USA) ,  Brown G. V. (Physics Division, Lawrence Livermore National Laboratory, Livermore, California 94550, USA) ,  Hell N. (Physics Division, Lawrence Livermore National Laboratory, Livermore, California 94550, USA) ,  McKelvey A. (Physics Division, Lawrence Livermore National Laboratory, Livermore, California 94550, USA) ,  Shepherd R. (Physics Division, Lawrence Livermore National Laboratory, Livermore, California 94550, USA) ,  Hoarty D. J. (Directorate of Research and Applied Science, AWE plc, Reading RG7 4PR, United Kingdom) ,  Brown C. R. D. (Directorate of Research and Applied Science, AWE plc, Reading RG7 4PR, United Kingdom) ,  Hill M. P. (Directorate of Research and Applied Science, AWE plc, Reading RG7 4PR, United Kingdom) ,  Hobbs L. M. R. (Directorate of Research and Applied Science, AWE plc, Reading RG7 4PR, United Kingdom) ,  James S. F. (Directorate of Research and Applied Science, AWE plc, Reading RG7 4PR, United Kingdom) ,  Wilson L. (Directorate of Research and Applied Science, AWE plc, Reading RG7 4PR, United Kingdom)
資料名： Review of Scientific Instruments  (Review of Scientific Instruments)
巻： 89  号： 10  ページ： 10F120-10F120-4  発行年： 2018年 
JST資料番号： D0517A  ISSN： 0034-6748  CODEN： RSINAK  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： オリオン高分解能X線(OHREX)分光計は,オリオンレーザ施設における短パルス加熱プラズマにおいて生成される密度広がりスペクトル線の形状を測定するための成功したツールである。著者らは最近,電荷対デバイス(CCD)カメラを備えた装置に適合した。これにより,ラインシフト測定を行うことができる精度を大幅に向上させた。OHREXはオリオンターゲットチャンバーの外側に位置するので,電磁パルスの遮蔽のための準備は必要とされない。CCDにより,以前にイメージプレート検出器で得られたよりも高い信号対雑音比を得た。これにより,ショットからショットまで再現性が高い二つのOHREX結晶からの回折により生成した画像中の構造を観察することができた。この構造は最終的に我々の分光測定の精度を制限する。Copyright 2018 AIP Publishing LLC All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 画像 ,  カメラ ,  *結晶 ,  X線 ,  電磁パルス ,  検出器 ,  再現性 ,  分光計 ,  *高分解能 ,  *プラズマ ,  電荷 ,  スペクトル
準シソーラス用語： チャンバ ,  パルス加熱 ,  *結晶スペクトロメータ , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (2件)： 電荷移送デバイス  (NC03130E) ,  X線技術  (BA02060D)

タイトルに関連する用語 (5件)： 高密度プラズマ ,  シフト ,  高分解能 ,  SN比 ,  結晶スペクトロメータ