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J-GLOBAL ID：201802219814642245   整理番号：18A0475196

ヘマタイト電解質界面における電位特異的構造【Powered by NICT】

Potential-Specific Structure at the Hematite-Electrolyte Interface

著者 (5件)： McBriarty Martin E. (Physical Sciences Division, Pacific Northwest National Laboratory, 902 Battelle Blvd., Richland, WA, 99354, USA) ,  Stubbs Joanne E. (Center for Advanced Radiation Sources, University of Chicago, 5640 S Ellis Ave., ACC 118, Chicago, IL, 60637, USA) ,  Eng Peter J. (Center for Advanced Radiation Sources, University of Chicago, 5640 S Ellis Ave., ACC 118, Chicago, IL, 60637, USA) ,  Eng Peter J. (James Franck Institute, University of Chicago, 929 E 57th St., Chicago, IL, 60637, USA) ,  Rosso Kevin M. (Physical Sciences Division, Pacific Northwest National Laboratory, 902 Battelle Blvd., Richland, WA, 99354, USA)
資料名： Advanced Functional Materials  (Advanced Functional Materials)
巻： 28  号： 8  ページ： ROMBUNNO.201705618  発行年： 2018年 
JST資料番号： W1336A  ISSN： 1616-301X  CODEN： AFMDC6  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： ドイツ (DEU)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 遷移金属酸化物と電解質水溶液の間の界面の原子スケール構造は(光)電気化学的エネルギー変換と電極劣化に基本的な界面化学反応を調節する。in situ酸化物-電解質界面を調べる測定はイオンと溶媒配置の重要な詳細を提供するが,原子的に正確な構造モデルは,平衡から遠く離れた一般的な酸化物-電解質界面の存在しない。新しいセルを用いて,ヘマタイト(αFe_2O_3)(1102)-電解質界面の構造を,シンクロトロン結晶切断ロッドX線散乱を用いた制御された電気化学的バイアス下で測定した。カソード電位では,表面酸素基の電荷補償プロトン化は特異的に結合した水の被覆率を増加させるが,隣接する水層は外向き置換と無秩序になった。開回路電位に帰国した持続性準安定状態における表面を残した。,界面を横切る電流とイオンの流束はその特異的構造と分極は印加電位に応じて変化多重電解質層により調節される。研究を電気化学的測定を解釈するために用いた単純化電気二重層モデルの基礎となる複雑な環境を明らかにし,機能性遷移金属酸化物-電解質界面で適切に理解触媒プロセスの条件特異的構造特性化の重要性を強調した。Copyright 2018 Wiley Publishing Japan K.K. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】

シソーラス用語： 電気化学 ,  キャラクタリゼーション ,  *電解質 ,  X線散乱 ,  電気二重層 ,  界面化学 ,  イオン ,  被覆率 ,  *赤鉄鉱 ,  *界面 ,  電流 ,  カソード ,  触媒 ,  酸素 ,  酸化物

著者キーワード (5件)： 電気化学 ,  ヘマタイト ,  酸化物界面 ,  Stern層 ,  シンクロトロンX線散乱

分類 (4件)： セラミック・磁器の性質  (YC03030G) ,  二次電池  (YB04030K) ,  燃料電池  (YB04040V) ,  セラミック・陶磁器の製造  (YC03020V)

タイトルに関連する用語 (4件)： ヘマタイト ,  電解質 ,  界面 ,  電位