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J-GLOBAL ID：201802220703788224   整理番号：18A1094311

入力ベクトル制御と伝送ゲート挿入に基づく回路NBTI劣化緩和【JST・京大機械翻訳】

Mitigation of circuit NBTI aging based on input vector control and transmission gate insertion

著者 (6件)： Hu Lincong (合肥工業大学 電子科学与応用物理学院 ,安徽 合肥,230009) ,  Yi Maoxiang (合肥工業大学 電子科学与応用物理学院 ,安徽 合肥,230009) ,  Ding Li (合肥工業大学 電子科学与応用物理学院 ,安徽 合肥,230009) ,  Zhu Jiong (合肥工業大学 電子科学与応用物理学院 ,安徽 合肥,230009) ,  Liu Xiaohong (合肥工業大学 電子科学与応用物理学院 ,安徽 合肥,230009) ,  Liang Huaguo (合肥工業大学 電子科学与応用物理学院 ,安徽 合肥,230009)
資料名： Hefei Gongye Daxue Xuebao. Ziran Kexue Ban  (Hefei Gongye Daxue Xuebao. Ziran Kexue Ban)
巻： 41  号： 1  ページ： 55-59,75  発行年： 2018年 
JST資料番号： W1497A  ISSN： 1003-5060  CODEN： HGDXB2  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 中国 (CHN)  言語： 中国語 (ZH)

抄録/ポイント： 既存の方式は,入力ベクトル制御(IVC)とゲート置換(gatereplacement)を組み合わせた。GRは負バイアス温度不安定性(negativebiastemperatureinstability,NBTI)による回路老化を緩和した。GR応用がIVCのアンチエイジング効果を破壊する可能性があるという問題があり、本文はIVCと転送ゲート(transmissiongate)に基づいた。目標回路を複数の論理的円錐回路に分割し,次に各サブ回路の動的バックトラッキングを行い,各サブ回路の接続を回復させるとき,最適入力制御ベクトルを得た。同一条件の実験結果は,既存の方式と比較して,提案したスキームが回路の平均遅延劣化の改善率を1倍改善し,面積オーバヘッドと回路固有遅延も明らかに低下することを示した。Data from Wanfang. Translated by JST【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 円錐 ,  バックトラッキング ,  *ベクトル ,  *緩和現象 ,  *ベクトル制御
準シソーラス用語： オーバヘッド ,  NBTI , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (5件)： negative bias temperature instability (NBTI) ,  aging ,  input vector control(IVC) ,  transmis-sion gate(TG) insertion ,  backtracking

分類 (2件)： 論理回路  (NC05070B) ,  半導体集積回路  (NC03162T)

タイトルに関連する用語 (4件)： ベクトル制御 ,  ゲート ,  NBTI ,  緩和