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J-GLOBAL ID：201802221349923971   整理番号：18A0246235

マイクロ波・ミリ波フォトニクス技術の新展開 6.光技術を利用した電磁界計測

著者 (2件)： 佐々木愛一郎 (NTT デバイスイノベーションセ) ,  都甲浩芳 (NTT デバイスイノベーションセ)
資料名： 電子情報通信学会誌  (Journal of the Institute of Electronics, Information and Communication Engineers)
巻： 101  号： 2  ページ： 166-173  発行年： 2018年02月01日 
JST資料番号： F0019A  ISSN： 0913-5693  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： モバイル社会の進展に伴い,通信をはじめとする様々な分野で電磁波が利用されるようになった。このような状況を反映し,電界や磁界の状態を正しく計測する手法が求められている。電磁界計測の手法は様々であるが,光技術を利用した計測法が20世紀後半に提案されて以来,現代においても多彩なアプローチで研究・実用化がなされている。本稿では,光技術を利用した電磁界計測のエッセンスを解説するとともに,我々のグループにおける本計測法の応用例を紹介する。(著者抄録)

シソーラス用語： 電磁場 ,  *計測 ,  光学素子
準シソーラス用語： 電界計測 ,  電気光学デバイス ,  電磁界 ,  *電磁波計測

分類 (1件)： 電磁気的量の計測一般  (AD07010R)

引用文献 (27件)：

• 桑原伸夫,′′電気光学効果を用いた電磁界センサの歴史と今後の課題,′′信学論(B),vol,J97-B,no.3,pp.235-242,March 2014.
• J.A. Valdmanis, G. Mourou, and C.W. Gabel, ′′Picosecond electrooptic sampling system,′′ Appl. Phys. Lett., vol. 41, no. 3, pp. 211-212, Aug. 1982.
• B.H. Kolner and D.M. Bloom, ′′Electrooptic sampling in GaAs integrated circuits,′′ IEEE J. Quantum Electron., vol. 22, no. 1, pp. 79-93, Jan. 1986.
• Q. Wu and X.-C. Zhang, ′′Free-space electro-optic sampling of terahertz beams,′′ Appl. Phys. Lett., vol. 67, no. 24, pp. 3523-3525, Dec. 1995.
• Z. Jiang and X.-C. Zhang, ′′Terahertz imaging via electrooptic effect,′′ IEEE Trans. Microw. Theory Tech., vol. 47, no. 12, pp. 2644-2650, Dec. 1999.

タイトルに関連する用語 (7件)： マイクロ波 ,  ミリ波 ,  フォトニクス ,  展開 ,  光技術 ,  電磁界 ,  計測