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J-GLOBAL ID:201802222239025041   整理番号:18A0726173

バックグラウンド較正による周波数変換器へのCMOS蛍光寿命【JST・京大機械翻訳】

CMOS fluorescence lifetime to frequency converter with background calibration
著者 (2件):
資料名:
巻: 2017  号: BioCAS  ページ: 1-4  発行年: 2017年 
JST資料番号: W2441A  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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本論文は,直接パルス周波数変調ディジタル出力による蛍光寿命測定のための新しいCMOSイメージセンサを提示した。寄生非敏感マルチサイクル電荷変調方式を適用して,多重露光上の離散プログラマブル時間窓における光子生成電荷を蓄積した。組込みラッチコンパレータは,多サイクル電荷集積出力を参照と比較することにより,自動リセットパルスを生成する。この自動リセットパルス信号のパルス周波数変化を監視することにより,検出された蛍光寿命を抽出できる。周囲光と内蔵オフセットにより発生する背景光電流を補償するために,電荷ポンプに基づく較正回路も提案した。積分時間窓として20μsパルス幅をもつ10kHzクロック信号により駆動され,提案した回路は575nmで93Hz/μW/cm2の応答性と19nW/cm2分解能を達成できた。Ru(dpp)3(PF_6)2蛍光試料の寿命測定のために提案したセンサチップを適用して,その寿命を8ns分解能で4.2μsと推定した。Copyright 2018 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【JST・京大機械翻訳】
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分類 (1件):
分類
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温度測定,温度計 
タイトルに関連する用語 (5件):
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