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J-GLOBAL ID：201802222777582690   整理番号：18A2107393

BELLE IIデータ収集システムの性能試験【JST・京大機械翻訳】

The performance test of the Belle II Data Acquisition System

著者 (7件)： Konno Tomoyuki (High Energy Accelerator Research Organization (KEK), Institute of Particle and Nuclear Studies, Tsukuba, Japan) ,  Itoh Ryosuke (High Energy Accelerator Research Organization (KEK), Institute of Particle and Nuclear Studies, Tsukuba, Japan) ,  Liu Zhen-an (Chinese Academy of Science, Institute of High Energy Physics, Beijing, China) ,  Nakao Mikihiko (High Energy Accelerator Research Organization (KEK), Institute of Particle and Nuclear Studies, Tsukuba, Japan) ,  Suzuki Soh (Computing Research Center, High Energy Accelerator Research Organization (KEK), Tsukuba, Japan) ,  Yamada Satoru (High Energy Accelerator Research Organization (KEK), Institute of Particle and Nuclear Studies, Tsukuba, Japan) ,  Zhao Jingzhou (Chinese Academy of Science, Institute of High Energy Physics, Beijing, China)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017  号： NSS/MIC  ページ： 1-4  発行年： 2017年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： KEKにおける新しい世代B工場実験であるBelle II実験は,KEKにおける高光度電子-陽電子衝突器,SuperKEKBによる標準モデルを超えた新しい物理学を探索するために,2018年のデータを始めることに関するものである。検出器から30GB/Tまでの巨大なデータサイズを扱うために,Belle IIデータ収集システムを,検出器フロントエンドエレクトロニクス,複数のPCとネットワークスイッチを持つイベントビルダー,およびソフトウェアトリガ決定のためのオフライン再構成を備えた高レベルトリガ(HLT)PC農場に基づいて実装した。画素検出器のための専用FPGAデータプロセッサを導入して,HLTからのフィードバックにおける再構成されたトラックの周りのヒットを選択して,巨大なデータサイズを減少させた。DAQはレベル1トリガの同期システムであり,トリガとシステムクロックは読出し成分に分布する。検出器の構成はほとんど完了している。検出器フロントエンドとバックエンド計算システムを含む読出しエレクトロニクスも,グローバルシステムテストのために準備されている。本論文では,統合モジュールを用いたBelle II DAQシステムの性能試験を論じた。Copyright 2018 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： FPGA ,  *性能試験 ,  計算機システム ,  同期装置 ,  データ処理装置 ,  クロック ,  電子技術 ,  再構成 ,  検出器 ,  農場 ,  *データ収集システム ,  規範モデル ,  画素 ,  バックエンド ,  測時機
準シソーラス用語： 読出し , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 図形・画像処理一般  (JE04010I)

タイトルに関連する用語 (2件)： データ収集システム ,  性能試験