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J-GLOBAL ID：201802223022258128   整理番号：18A0262347

高電圧ガラス碍子連の電荷分布測定に及ぼす汚染の影響【Powered by NICT】

Contamination effects on charge distribution measurement of high voltage glass insulator string

著者 (3件)： Othman N.A. (Faculty of Electrical and Electronic Engineering, Universiti Tun Hussein Onn Malaysia, Batu Pahat, Johor, Malaysia) ,  Piah M.A.M. (Institute of High Voltage and High Current, Faculty of Electrical Engineering, Universiti Teknologi Malaysia, Johor Bahru, Johor, Malaysia) ,  Adzis Z. (Institute of High Voltage and High Current, Faculty of Electrical Engineering, Universiti Teknologi Malaysia, Johor Bahru, Johor, Malaysia)
資料名： Measurement  (Measurement)
巻： 105  ページ： 34-40  発行年： 2017年 
JST資料番号： W0315B  ISSN： 0263-2241  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 蓄積された電荷は絶縁体の局所電場分布を大幅に増強し,公称電圧下でも破壊につながる可能性があることは確かである。電荷分布に関する研究は過去数十年の世界的な注目を集めているが,その表面上の電荷分布の研究はまだ不十分である。そこで本論文では,清浄及び汚染条件を受ける傾斜環のないガラス絶縁体ストリングの表面上の電荷分布測定を提示した。実験結果は,供給から除かれた最近ガラス絶縁体の電荷の分布は負の分布パターンを持ち,これは更なるシミュレーション結果によって支持されていることを明らかにした。金属-誘電体界面で起こる電荷注入と抽出は,隣接する絶縁体の電荷振幅に大きく影響する。本研究はまた,汚染の存在は接地電極の近くに置かれた絶縁体の電荷分布に影響することを明らかにした。Copyright 2018 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】

シソーラス用語： シミュレーション ,  界面 ,  キャリア注入 ,  *碍子 ,  誘電体 ,  *ガラス ,  *電荷分布 ,  *電圧 ,  絶縁体 ,  接地極 ,  *電荷
準シソーラス用語： 局所電場 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (6件)： 電荷分布 ,  ガラス絶縁体 ,  ステンレス鋼メッシュ ,  有限要素ソフトウエア ,  Tanデルタ ,  伝送線路

分類 (1件)： 長さ,面積,断面,体積,容積,角度の計測法・機器  (AD05020O)

タイトルに関連する用語 (5件)： 高電圧 ,  ガラス ,  碍子 ,  電荷分布 ,  汚染