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J-GLOBAL ID：201802223296834229   整理番号：18A1224983

光電検出モジュールの電源抑制比試験法【JST・京大機械翻訳】

Test method of power supply rejection ratio of PIN-FET module

著者 (5件)： Pan Xiong (北京航空航天大学 儀器科学与光電工程学院,北京,100191) ,  Song Shuwen (北京航空航天大学 儀器科学与光電工程学院,北京,100191) ,  Zhang Shaobo (北京航空航天大学 儀器科学与光電工程学院,北京,100191) ,  Wang Lei (北京航空航天大学 儀器科学与光電工程学院,北京,100191) ,  Song Ningfang (北京航空航天大学 儀器科学与光電工程学院,北京,100191)
資料名： Zhongguo Guanxing Jishu Xuebao  (Zhongguo Guanxing Jishu Xuebao)
巻： 26  号： 1  ページ： 76-80  発行年： 2018年 
JST資料番号： C2764A  ISSN： 1005-6734  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 中国 (CHN)  言語： 中国語 (ZH)

抄録/ポイント： 電磁干渉の抑制は,光ファイバジャイロ,特に小型光ファイバジャイロの低速度感度のキー問題であり,光ファイバジャイロ検出回路の干渉伝導特性を,電源インテグリティの観点から研究した。光ファイバジャイロ(FOG)の弱い信号検出の特性に従い,ロックイン増幅器に基づく光電子検出モジュールの電源抑制比の試験方式を提案した。中低精度ファイバジャイロの変調-復調周波数の範囲を例として、このテストシステムを用いて、光電検出モジュールの100kHz3MHz内の電源抑制比の周波数特性曲線を測定した。実験結果は,光電検出モジュールの電源抑制比が,明らかに高域通過特性を示し,100kHzの周波数点で,PSRRが約29.5dBであり,3MHzまでの減衰が17であることを示した。Data from Wanfang. Translated by JST【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 低速度 ,  *周波数 ,  復調 ,  信号検出 ,  周波数特性 ,  干渉 ,  インテグリティ ,  電磁干渉
準シソーラス用語： PSRR ,  ロックイン増幅器 ,  光ファイバジャイロ ,  試験方法 ,  光電気 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (5件)： power integrity ,  power supply rejection ratio ,  lock-in amplification ,  PIN-FET module ,  fiber optic gyro

分類 (1件)： 光導波路,光ファイバ,繊維光学  (BD06030H)

タイトルに関連する用語 (3件)： 光電 ,  モジュール ,  試験法