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J-GLOBAL ID：201802223352375270   整理番号：18A1131404

光子計数検出器における電荷輸送のモデリング【JST・京大機械翻訳】

Modeling charge transport in photon-counting detectors

著者 (9件)： Fang Yuan (Division of Radiological Health, Office of In Vitro Diagnostics and Radiological Health, Center for Devices and Radiological Health, Food and Drug Administration, 10903 New Hampshire Ave, Silver Spring, MD 20993, USA) ,  Xu Cheng (Department of Physics, Royal Institute of Technology, Stockholm, Sweden) ,  Yao Yuan (Department of Bioengineering, Stanford University, Stanford, CA, USA) ,  Yao Yuan (Department of Radiology, Stanford University, Stanford, CA 94305, USA) ,  Pelc Norbert (Department of Bioengineering, Stanford University, Stanford, CA, USA) ,  Pelc Norbert (Department of Radiology, Stanford University, Stanford, CA 94305, USA) ,  Pelc Norbert (Department of Electrical Engineering, Stanford University, Stanford, CA, USA) ,  Danielsson Mats (Department of Physics, Royal Institute of Technology, Stockholm, Sweden) ,  Badano Aldo (Division of Imaging, Diagnostics, and Software Reliability, Office of Science and Engineering Laboratories, Center for Devices and Radiological Health, Food and Drug Administration, 10903 New Hampshire Ave, Silver Spring, MD 20993, USA)
資料名： Nuclear Instruments & Methods in Physics Research. Section A. Accelerators, Spectrometers, Detectors and Associated Equipment  (Nuclear Instruments & Methods in Physics Research. Section A. Accelerators, Spectrometers, Detectors and Associated Equipment)
巻： 899  ページ： 115-121  発行年： 2018年 
JST資料番号： D0208B  ISSN： 0168-9002  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 本研究の目的は,シリコンベースの半導体検出器における電荷雲の輸送を記述するためのシミュレーション法をレビューし,比較し,シリコンベースの光子計数ストリップ検出器に対するエネルギースペクトルへの影響を調べることである。電荷雲と詳細なキャリア輸送をシミュレーションし,解析とモンテカルロスキーマを含む2つの異なるアプローチを用いて比較した。シミュレーションの結果を,ピクセル境界と検出器の深さに対する種々のX線吸収位置における2つのエネルギー(25と75keV)のエッジをもつシリコンストリップ検出器に対するパルス高さスペクトル(PHS)を用いて評価した。これらの知見は,キャリア拡散が光子計数検出器における電荷共有効果において大きな役割を果たすことを確認した。特に,光子が画素電極から遠く離れたピクセル境界近くに吸収されるときには,特に光子が吸収される。この結果を,閾値エネルギーの関数としてピクセル境界近くに吸収されたX線光子の二重計数確率に関してさらに比較した。モンテカルロおよび解析モデルは,エッジ形状をもつシリコンストリップ検出器に対する電荷共有効果に対して,合理的な一致(Swank因子における2%相対誤差)を示した。画素境界から5μmで吸収された25keVの単一エネルギー光子に対して,電荷共有に基づく10%二重計数確率での理論的閾値エネルギーは,電極からの50,250および450μmの吸収深さに対して,それぞれ5.5,8.5および9.2keVである。電荷雲の輸送は光子計数検出器のスペクトル特性に影響し,二重計数確率の結果は,シリコンに対するX線エネルギーとX線相互作用位置の関数として二重計数を避けるための理論的閾値エネルギーを示し,電荷共有効果の将来の研究のために考慮することができる。Copyright 2018 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： モンテカルロ法 ,  *光子 ,  パルス ,  シミュレーション ,  エネルギー分布 ,  解析モデル ,  スペクトル ,  画素 ,  X線 ,  相互作用 ,  *電荷 ,  *光子計数 ,  ケイ素 ,  *モデリング
準シソーラス用語： *計数 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (5件)： 光子計数 ,  シリコン検出器 ,  電荷共有 ,  二重計数確率 ,  モンテカルロ法

分類 (1件)： 放射線検出・検出器  (AD08020J)

タイトルに関連する用語 (4件)： 光子計数 ,  検出器 ,  電荷輸送 ,  モデリング