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J-GLOBAL ID：201802223359213342   整理番号：18A0970801

スリットFresnel回折を用いたコリメーション試験【JST・京大機械翻訳】

Collimation testing using slit Fresnel diffraction

著者 (6件)： Luo Xiaohe (Beijing Key Laboratory of Precision Photoelectric Measuring Instrument and Technology, School of Optoelectronics, Beijing Institute of Technology, Beijing 100081, China) ,  Hui Mei (Beijing Key Laboratory of Precision Photoelectric Measuring Instrument and Technology, School of Optoelectronics, Beijing Institute of Technology, Beijing 100081, China) ,  Wang Shanshan (Beijing Key Laboratory of Precision Photoelectric Measuring Instrument and Technology, School of Optoelectronics, Beijing Institute of Technology, Beijing 100081, China) ,  Hou Yinlong (Beijing Key Laboratory of Precision Photoelectric Measuring Instrument and Technology, School of Optoelectronics, Beijing Institute of Technology, Beijing 100081, China) ,  Zhou Siyu (Beijing Key Laboratory of Precision Photoelectric Measuring Instrument and Technology, School of Optoelectronics, Beijing Institute of Technology, Beijing 100081, China) ,  Zhu Qiudong (Beijing Key Laboratory of Precision Photoelectric Measuring Instrument and Technology, School of Optoelectronics, Beijing Institute of Technology, Beijing 100081, China)
資料名： Review of Scientific Instruments  (Review of Scientific Instruments)
巻： 89  号： 3  ページ： 033102-033102-8  発行年： 2018年 
JST資料番号： D0517A  ISSN： 0034-6748  CODEN： RSINAK  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： スリットFresnel回折に基づく簡単なコリメーション試験法を提案した。この方法は,寸法精度に必要なく,CMOSとスリットのみを必要とする。試験した光ビームはスリットを横切って回折し,CMOSで受信したFresnel回折パターンを形成した。解析の後に,回折パターンの一次ピーク点と二次ピーク点の間のデフォーカス量と距離は,表現関係を満たし,次に,デフォーカス量を,表現から推論することができた。この方法をコヒーレントビームと部分コヒーレントビームの両方に適用し,これらの二つのビームをレーザと発光ダイオード(LED)から約50nmのスペクトル幅をもつ発光ダイオード(LED)から放射した。シミュレーションは,LEDの広いスペクトルがより高い精度を提供するために滑らかなフィルタリングの効果を有することを示した。実験は,約50nmのスペクトル幅を有するLEDがレーザより低い限界誤差を有して,焦点距離200mmおよびスリット幅15mmを有する58.1601μmまで達成することができることを示した。(翻訳著者抄録)【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： *Fresnel回折 ,  発光ダイオード ,  寸法精度 ,  *コリメーション ,  焦点距離 ,  フィルタリング ,  CMOS ,  スペクトル ,  レーザ ,  光子ビーム
準シソーラス用語： 回折パターン , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (3件)： 分光法と分光計一般  (BD07041Q) ,  加速器一般及び理論  (BE02010M) ,  X線技術  (BA02060D)

タイトルに関連する用語 (4件)： スリット ,  Fresnel回折 ,  コリメーション ,  試験