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J-GLOBAL ID：201802223364008411   整理番号：18A0160803

記憶コンテンツベースの検出のための症例とDRAMにおけるデータ依存故障の緩和【Powered by NICT】

A Case for Memory Content-Based Detection and Mitigation of Data-Dependent Failures in DRAM

著者 (5件)： Khan Samira (University of Virginia, Charlottesville, VA) ,  Wilkerson Chris (Intel Labs, Santa Clara, CA) ,  Lee Donghyuk (Carnegie Mellon University, Pittsburgh, PA) ,  Alameldeen Alaa R. (Intel Labs, Santa Clara, CA) ,  Mutlu Onur (Carnegie Mellon University, Pittsburgh, PA)
資料名： IEEE Computer Architecture Letters  (IEEE Computer Architecture Letters)
巻： 16  号： 2  ページ： 88-93  発行年： 2017年 
JST資料番号： W1860A  ISSN： 1556-6056  CODEN： ICALC3  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 近接したDRAMセルは隣接細胞におけるデータ含有量に依存して破壊する。これらの故障はデータ依存故障と呼ばれている。システムは,フィールドでの走行中オンラインこれらの故障の検出と軽減システムの信頼性,遅延,およびエネルギー効率を改善する最適化を可能にした。全てこれらの最適化は,DRAMの含有量で起こることを全ての可能なデータ依存故障を正確に検出するに依存する。残念なことに,全てのデータ依存故障を検出する各DRAMチップに特異的なDRAM内部の知識を必要とする。内部DRAMアーキテクチャは,システムにさらされていないとして,システムレベルでのデータ依存故障を検出する主要な課題である。DRAM内部の知識なしに故障を検出することができることをこの研究の目的は物理的DRAM組織からデータ依存故障の検出と緩和を分離することである。この目的のために,著者らはMEMCON,DRAMにおけるデータ依存故障のための記憶コンテンツベース検出と緩和機構を提案した。MEMCONはあらゆる可能なデータ依存故障を検出しなかった。代わりに,プログラムは系における動いているが,記憶における電流量で起こる故障を検出し,軽減する。実機からの実験データを用いて,MEMCON DRAMにおけるデータ依存故障のための効果的で低オーバヘッドシステムレベル検出と軽減技術であることを示した。Copyright 2018 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： 信頼性 ,  電流 ,  エネルギー効率 ,  *緩和現象 ,  最適化 ,  *故障 ,  計算機アーキテクチャ ,  *DRAM

分類 (1件)： 図形・画像処理一般  (JE04010I)

タイトルに関連する用語 (5件)： 記憶コンテンツ ,  症例 ,  DRAM ,  故障 ,  緩和