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J-GLOBAL ID:201802224037171817   整理番号:18A1677481

欠陥密度の測定におけるHalsteadおよびCyclic計算量計量の評価【JST・京大機械翻訳】

Evaluation of Halstead and Cyclomatic Complexity Metrics in Measuring Defect Density
著者 (3件):
資料名:
巻: 2017  号: GCCCE  ページ: 1-9  発行年: 2017年 
JST資料番号: W2441A  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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ソフトウェア計量は,品質保証に有用な再現性のある測定を得るために使用される。最近の研究により,Halstead Complexity(HC),Cyclomatic Complexity(CC),およびソフトウェアに見られる欠陥の数の間の関係を分析した。ソフトウェア欠陥の数は一様なソフトウェア計量を表さず,一般化されない。本研究では,欠陥(DD)の密度とHCおよびCC計量との関係を調べた。良くコードされたオープンソースプロジェクトを用いた。クラスレベルでの解析を行い,これら二つのソフトウェア計量と欠陥密度の間に存在する可能性のあるパターンと相関を調べた。HCとCCはDefect密度測定と類似の関係を示すことを見出した。さらに,それらの強い正の線形相関は,HCとCCが欠陥密度に関して2つの一貫したソフトウェア計量であるという結論に導く。Copyright 2018 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】
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, 【Automatic Indexing@JST】
分類 (5件):
分類
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音声処理  ,  医用画像処理  ,  符号理論  ,  NMR一般  ,  専用演算制御装置 
タイトルに関連する用語 (4件):
タイトルに関連する用語
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