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J-GLOBAL ID：201802224096947913   整理番号：18A0969484

超伝導遷移端センサにおける渦動力学【JST・京大機械翻訳】

Vortex dynamics in superconducting transition edge sensors

著者 (5件)： Ezaki S. (Advanced Technology Center, National Astronomical Observatory of Japan, Tokyo 181-8588, Japan) ,  Maehata K. (Department of Applied Quantum Physics and Nuclear Engineering, Kyushu University, Fukuoka 819-0395, Japan) ,  Iyomoto N. (Department of Applied Quantum Physics and Nuclear Engineering, Kyushu University, Fukuoka 819-0395, Japan) ,  Asano T. (Department of Applied Physics, University of Fukui, Fukui 910-8507, Japan) ,  Shinozaki B. (Department of Physics, Kyushu University, Fukuoka 810-8560, Japan)
資料名： Journal of Applied Physics  (Journal of Applied Physics)
巻： 123  号： 8  ページ： 084504-084504-4  発行年： 2018年 
JST資料番号： C0266A  ISSN： 0021-8979  CODEN： JAPIAU  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 電気抵抗(R-T)と電流-電圧(I-V)特性の温度依存性を測定し,遷移端センサ(TES)として用いた40nm厚のTi薄膜において解析した。渦-反渦対解離モデルによるI-V特性の解析は,二次元超伝導Ti薄膜におけるBerezinskii-Kosteritz-Thouless(BKT)転移の可能な存在を示した。TESsにおける渦の流れによる雑音を調べた。TESsにおける電流雑音スペクトル密度の値を,Ti薄膜におけるBKT遷移に起因する渦動力学を用いて推定した。渦の流れにより誘起された電流雑音スペクトル密度の推定値は,Ti/Au二重層を持つTESsで実験的に観測された過剰雑音の値と一致した。(翻訳著者抄録)【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： スペクトル密度 ,  *渦 ,  チタン ,  薄膜 ,  金 ,  温度依存性 ,  二次元 ,  *超伝導 ,  電流 ,  電流電圧特性 ,  雑音
準シソーラス用語： 過剰雑音 ,  電流雑音 ,  *渦動力学 ,  *遷移端センサ , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 金属系超伝導体の物性  (BM04022R)

タイトルに関連する用語 (2件)： 超伝導遷移端センサ ,  渦動力学