文献

J-GLOBAL ID：201802224409369785   整理番号：18A0161003

故障の物理学に基づく接触スリップリングのための貯蔵寿命のモデル化と解析【Powered by NICT】

Storage Life Modeling and Analysis for Contacting Slip Ring Based on Physics of Failure

著者 (4件)： Zhang Jianchun (School of Reliability and Systems Engineering, Beihang University, Beijing, China) ,  Ma Xiaobing (School of Reliability and Systems Engineering, Beihang University, Beijing, China) ,  Cheng Bo (Nuclear Power Institute of China, Chengdu, China) ,  Zhao Yu (School of Reliability and Systems Engineering, Beihang University, Beijing, China)
資料名： IEEE Transactions on Components, Packaging, and Manufacturing Technology  (IEEE Transactions on Components, Packaging, and Manufacturing Technology)
巻： 7  号： 12  ページ： 1969-1980  発行年： 2017年 
JST資料番号： W0590B  ISSN： 2156-3950  CODEN： ITCPC8  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 慣性ナビゲーションプラットフォームにおける接触スリップリングの貯蔵寿命は現場データを得ることの困難さのため,容易に推定することはできない。本論文では,破壊機構と統計データの組合せに基づく接触スリップリングの貯蔵寿命モデリングと解析に関する新しいアプローチを提案した。破壊メカニズムの分析により,ブラシと有機薄膜成長の応力緩和による接触抵抗の増加は多くの場合における接触スリップリングの蓄尿障害をもたらすことを示した。微視的接触と薄膜電気伝導機構に基づいて,緩和抵抗と薄膜抵抗成長モデルを開発し,これは接触抵抗の故障データを変換貯蔵寿命データにできる。幾つかの対策は重要な要素の寿命予測と解析による接触スリップリングの貯蔵寿命を延長するために提示した。Copyright 2018 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： 薄膜 ,  *モデリング ,  応力緩和 ,  電気伝導 ,  *故障 ,  緩和現象 ,  *シェルフライフ ,  ブラシ ,  統計データ ,  *スリップリング ,  寿命予測 ,  接触抵抗
準シソーラス用語： 成長モデル ,  有機薄膜 ,  破壊機構 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 固体デバイス製造技術一般  (NC03030V)

タイトルに関連する用語 (6件)： 故障 ,  物理学 ,  スリップリング ,  貯蔵寿命 ,  モデル化 ,  解析