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J-GLOBAL ID：201802224506505194   整理番号：18A0078461

故障注入ソフトウエアアプローチとハードウエア検出によるSEFI断面積評価【Powered by NICT】

SEFI cross-section evaluation by fault injection software approach and hardware detection

著者 (5件)： Loskutov I.O. (National Research Nuclear University MEPhI (Moscow Engineering Physics Institute), Moscow, Russia) ,  Nekrasov P.V. (National Research Nuclear University MEPhI, Moscow, Russia) ,  Shvetsov-Shilovskiy I.I. (National Research Nuclear University MEPhI, Moscow, Russia) ,  Boychenko D.V. (National Research Nuclear University MEPhI, Moscow, Russia) ,  Uzhegov V.M. (TSNIIMASH, Korolev, Russia)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017  号： MIEL  ページ： 251-254  発行年： 2017年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 本論文では,異なるマイクロコントローラメモリブロックにおけるアップセットを注入し,その機能的制御を行うことによりSEFIモデリングを可能にするシステムを提示し,SEFIが発生した時にモーメントを検出した。試験装置はNational Instrument PXIモジュール装置とLabVIEWソフトウェアに基づいて開発した。開発された故障注入システムはPIC17マイクロコントローラで試験した。シミュレーション結果と地上試験の比較を示した。Copyright 2018 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： *断面積 ,  マイクロコントローラ ,  試験装置 ,  ソフトウェア ,  モデリング ,  モーメント ,  *ハードウェア ,  シミュレーション
準シソーラス用語： 地上試験 ,  LabVIEW ,  *故障注入 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (2件)： 半導体集積回路  (NC03162T) ,  固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G)

タイトルに関連する用語 (5件)： 故障注入 ,  ソフトウエア ,  ハードウエア ,  断面積 ,  評価