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J-GLOBAL ID:201802225078233575   整理番号:18A0576198

固相エピタクシー後のSi(111)上のGe層の表面形態と構造【Powered by NICT】

Surface morphology and structure of Ge layer on Si(111) after solid phase epitaxy
著者 (3件):
資料名:
巻: 671  ページ: 43-50  発行年: 2018年 
JST資料番号: C0129B  ISSN: 0039-6028  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: オランダ (NLD)  言語: 英語 (EN)
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固相エピタクシーで形成したSi(111)表面上のGe層の表面形態変化を,走査型トンネル顕微鏡(STM)を用いて研究した。Ge膜は室温で堆積し,400°Cまたは600°Cでアニールした。400°Cでのアニーリング後の試料表面のSTM像は,WL上の小さな三次元島を持つ平らな濡れ層(WL)を示した。600°Cでのアニーリング後,STM画像は大きな島状構造を持つ表面粗さを示した。粗さと堆積層の厚さの平均高さの間の関係から,Ge原子の拡散は600°Cで非常に活性であることを確認した。界面でのSi結晶は再構築され,相互混合は600°C以上で起こる。しかし,相互混合は400°Cで固相エピタクシー成長におけるかなり制限される400°Cでの結晶化と表面形態の変化は,WL表面上に形成された島の形状により検討した。は非晶質相中のGe原子の拡散は400°Cでも活性であることを示した。Copyright 2018 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】
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半導体薄膜 
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