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J-GLOBAL ID：201802225838894725   整理番号：18A0505173

焼きなまし法によるロケーティングアレイの生成

On generating locating arrays using simulated annealing

著者 (4件)： 小西達也 (大阪大 大学院情報科学研究科) ,  小島英春 (大阪大 大学院情報科学研究科) ,  中川博之 (大阪大 大学院情報科学研究科) ,  土屋達弘 (大阪大 大学院情報科学研究科)
資料名： 電子情報通信学会技術研究報告  (IEICE Technical Report (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))
巻： 117  号： 444(DC2017 77-88)  ページ： 31-35  発行年： 2018年02月13日 
JST資料番号： S0532B  ISSN： 0913-5685  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 組み合わせテストは,効率的なソフトウェアテスト手法の1つである。本論文では,組み合わせテストで使用するテストケース集合にロケーティングアレイを使用する。ロケーティングアレイは,与えられたパラメータ値の組み合わせをすべて網羅するだけでなく,テストケースが失敗した場合,どの組み合わせに不具合が含まれているかを特定することができる。このロケーティングアレイについて,焼きなまし法を使用した生成手法を提案する。(著者抄録)

シソーラス用語： 試験 ,  *試験装置 ,  ソフトウェア ,  *デバッギング ,  *シミュレーテッドアニーリング ,  *プログラム検査 ,  パラメータ ,  数値 ,  アルゴリズム ,  原価計算 ,  計算量 ,  *二分探索 ,  Java
準シソーラス用語： ソフトウェアテスト ,  ロケーティングアレイ ,  焼きなまし法 ,  テストケース ,  組合せテスト ,  パラメータ値 ,  探索アルゴリズム

分類 (1件)： 計算機システム開発  (JD02010R)

引用文献 (6件)：

• D.R. Kuhn and D.R. Wallace, ′′Software fault interactions and implications for software testing,′′ IEEE Transactions on Software Engineering, vol.30, no.6, pp.418-421, June 2004.
• D.R. Kuhn, R.N. Kacker, and Y. Lei, Introduction to combinatorial testing, CRC Press, 2013.
• C.J. Colbourn and D.W. McClary, ′′Locating and detecting arrays for interaction faults,′′ Journal of combinatorial optimization, vol.15, pp.17-48, 2008.
• B.J. Garvin, M.B. Cohen, and M.B. Dwyer, ′′An improved meta-heuristic search for constrained interaction testing,′′ In International Symposium on Search Based Software Engineering (SSBSE), pp.13-22, 2009.
• T. Konishi, H. Kojima, H. Nakagawa, and T. Tuchiya, ′′Finding minimum locating arrays using a sat solver,′′ IEEE International Conference on Software Testing, Verification and Validation Workshops (ICSTW), pp.276-277, 2017.

タイトルに関連する用語 (1件)： 焼きなまし