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J-GLOBAL ID：201802225972398142   整理番号：18A1150945

高平均電力ジャイロTWTの相互作用に及ぼす残留ガスイオン化の影響【JST・京大機械翻訳】

Influence of residual gas ionization on interaction for high average power gyro-TWT

著者 (6件)： Lian Yuanyuan (School of Physical Electronics, University of Electronic Science and Technology of China, Chengdu, China, 610054) ,  Yan Ran (School of Physical Electronics, University of Electronic Science and Technology of China, Chengdu, China, 610054) ,  Liao Xiaoyi (School of Physical Electronics, University of Electronic Science and Technology of China, Chengdu, China, 610054) ,  Zheng Qiang (School of Physical Electronics, University of Electronic Science and Technology of China, Chengdu, China, 610054) ,  Shang Yafen (School of Physical Electronics, University of Electronic Science and Technology of China, Chengdu, China, 610054) ,  Luo Yong (School of Physical Electronics, University of Electronic Science and Technology of China, Chengdu, China, 610054)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2018  号： IVEC  ページ： 293-294  発行年： 2018年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 本論文では,高平均出力ジャイロ-TWTに対する相互作用に及ぼす残留ガスイオン化の影響を解析した。注入ビームは残留ガスとの衝突により散乱し,ガスイオン化過程,イオン化電子とイオン軌跡,チューブ材料への衝撃効果,およびミリ波とのイオン化電子相互作用を系統的に解析し,シミュレーションし,実験により検証した。これらの解析に基づいて,真空度の劣化,性能劣化,不安定性,高平均出力または連続波動作の下での破壊の問題を,低いガス放出材料開発を伴う効果的イオン収集とストラップ化イオン化電子遮断の方法によって解明した。この機構は,他の高出力電気真空装置の性能と信頼性を改善するための重要な指針を持っている。Copyright 2018 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： ガス放出 ,  *イオン ,  軌跡 ,  不安定性 ,  *イオン化 ,  信頼性 ,  *相互作用 ,  *ジャイロスコープ ,  EHF波 ,  真空度 ,  真空装置 ,  *残留ガス ,  連続波
準シソーラス用語： 高出力 ,  遮断 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 電子管,放電管  (NC02020D)

タイトルに関連する用語 (6件)： 平均電力 ,  ジャイロ ,  TWT ,  相互作用 ,  残留ガス ,  イオン化