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J-GLOBAL ID:201802226396319513   整理番号:18A0344308

心房間ブロックは心臓植込み型電子デバイスによって検出された心房高速エピソードを予測する【Powered by NICT】

Interatrial block predicts atrial high rate episodes detected by cardiac implantable electronic devices
著者 (5件):
資料名:
巻: 50  号:ページ: 234-237  発行年: 2017年 
JST資料番号: T0170A  ISSN: 0022-0736  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: オランダ (NLD)  言語: 英語 (EN)
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120ミリ秒より長いP波持続時間として定義される心房間ブロックは正しく評価高度に蔓延している心電図異常が心房性頻拍性不整脈と虚血性脳卒中と関連している。障害左心房力学と心房細動は心房間ブロックを合併した塞栓性イベントに寄与する潜在的機構である。心臓移植可能電子デバイスによる心房高率症状発現の検出は,臨床医が無症候性心房細動を診断するために提供する。心房ブロックと無症候性心房細動の間の関係は心房間ブロック患者における虚血性脳卒中のリスク増加に洞察を提供する。前向き2015年1月と2015年12月間の洞結節機能不全(SND)による二重チャンバーペースメーカーを移植した367名の患者を評価した。十二誘導心電図は,ペースメーカー移植前心房間ブロックを診断するために分析した。移植六か月後,ペースメーカーは心房高率症状発現を検出するために調べた。患者は心房高率症状発現の有無によって二群に分けた。心房高率症状発現はそれらのデバイス検査中の107(30.1%)患者で検出された。心房内ブロックは全研究集団の115(32.4%)の患者で見いだした。AHRE( )群で六十七(27.0%)の患者は心房間ブロックを48(44.9%)の患者はAHRE(+)群であった。心房間ブロックの有病率はAHRE(+)患者(P<0.01)における統計的に有意に高かった。無症候性心房細動の代用,心房高率症状発現の発生は心房間ブロック患者における統計学的に有意に高かった。Copyright 2018 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】
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分類 (1件):
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循環系の臨床医学一般 

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