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J-GLOBAL ID：201802226735529368   整理番号：18A1808746

局所統計による偏光合成開口レーダデータを用いたスペックルフィルタの解析と評価【JST・京大機械翻訳】

Analysis and Evaluation of Speckle Filters by Using Polarimetric Synthetic Aperture Radar Data Through Local Statistics

著者 (2件)： Medasani Sivasubramanyam ,  Reddy G. Umamaheswara
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2018  号： ICECA  ページ： 169-174  発行年： 2018年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： スペックル雑音(粒状雑音)は,分解能セルにおけるいくつかの散乱体を有する反射信号の干渉により,合成開口レーダ(SAR)データにおいて発生する。偏光測定SARデータからスペックル雑音を抑制する最も簡単な技術の一つは,局所統計を用いることである。Leeフィルタは,スペックル雑音により劣化したデータの画素のサンプル平均と分散を用い,これは探索ウィンドウにおいて乗算的,加法的,あるいは両者の混合物となり得る。洗練されたLee法は,空間分解能と特徴の優れた維持を保証する局所最小二乗誤差(LMMSE)を有する方向性ウィンドウを利用する。Lee-Sigmaフィルタを2シグマ確率に基づいて構築し,スペックル雑音を効果的に抑制した。しかし,バイアス評価の発生,エッジのぼけ,および点ターゲットの抑制において,不完全性が観察された。これらの欠点を除去するために,改善されたLee-Sigmaフィルタを開発した。それは,最小平均二乗誤差推定値を事前の平均値として使用する。したがって,点目標の優れた保全と微妙な詳細を議論する。本研究では,Lee,精製Lee,Lee-Sigmaおよび改良Lee-Sigmaフィルタを全偏光測定データを用いて評価した。評価結果は,改良Lee-Sigmaフィルタが他の局所統計フィルタより良く機能することを示した。Copyright 2018 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 偏光測定 ,  *スペックル ,  *合成開口レーダ ,  *フィルタ ,  指向性 ,  推定量 ,  *偏光 ,  加算 ,  画素 ,  乗算 ,  空間分解能 ,  雑音 ,  不整 ,  バイアス
準シソーラス用語： スペックル雑音 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 図形・画像処理一般  (JE04010I)

タイトルに関連する用語 (5件)： 統計 ,  偏光 ,  合成開口レーダ ,  解析 ,  評価