静的段階的ソフト表面反応法を用いたナノサイズコバルト(II)ビス(5 フェニル アゾ 8 ヒドロキシキノラート)の薄膜集合:構造特性化と光学的性質【Powered by NICT】

Seleim S.M.; Hamdalla Taymour A.; Hamdalla Taymour A.; Mahmoud Mohamed E.

文献

J-GLOBAL ID：201802227826967113 整理番号：18A0288989

静的段階的ソフト表面反応法を用いたナノサイズコバルト(II)ビス(5 フェニルアゾ 8 ヒドロキシキノラート)の薄膜集合:構造特性化と光学的性質【Powered by NICT】

Thin film assembly of nanosized cobalt(II) bis(5-phenyl-azo-8-hydroxyquinolate) using static step-by-step soft surface reaction technique: Structural characterization and optical properties

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高度な検索・分析はJDreamⅢで {{ this.onShowJLink("http://jdream3.com/lp/jglobal/index.html?docNo=18A0288989&from=J-GLOBAL&jstjournalNo=E0128B") }}

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資料名：
巻： 184 ページ： 134-140 発行年： 2017年
JST資料番号： E0128B ISSN： 1386-1425 資料種別：逐次刊行物 (A)
記事区分：原著論文発行国：オランダ (NLD) 言語：英語 (EN)

ナノサイズ(NS)コバルト(II)ビス(5-フェニル-アゾ 8 ヒドロキシキノラート)(NS Co(II)-(5PA 8HQ)2)薄膜は静的段階的ソフト表面反応(SS b SSR)法を用いて合成した。これらの薄膜の構造的および光学的特性評価を,熱重量分析(TGA),Fourier変換赤外(FT IR),走査電子顕微鏡(SEM),高分解能透過型電子顕微鏡(HR TEM)とX線回折(XRD)を用いて行った。HR-TEMの結果は,集合したCo(II)錯体は16.90nmと506.38nmまでの幅と長さをもつナノロッドの形で均一にNS構造粒子を示したことを明らかにした。線形および非線形光学的性質を調べた。設計した薄膜材料の同定されたエネルギーギャップは4.01eVであることが分かった。蒸着したCo(II)錯体薄膜の屈折率は厚さ依存性により同定し,波長1100nmで1.9であることが分かった。さらに,屈折率は厚さ19nmの増加により約0.15で変化させた。Copyright 2018 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】

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遷移金属錯体一般

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