文献

J-GLOBAL ID：201802228847065413   整理番号：18A0970805

分子テルル線を用いた630THzから685THzまでの高精度分光法のための超低膨張空洞の校正【JST・京大機械翻訳】

Calibrating an ultra-low expansion cavity for high precision spectroscopy from 630 THz to 685 THz using molecular tellurium lines

著者 (5件)： Patterson C. (Physics Department, Smith College, Northampton, Massachusetts 01063, USA) ,  Vira A. D. (Physics Department, Smith College, Northampton, Massachusetts 01063, USA) ,  Herd M. T. (Physics Department, Mount Holyoke College, South Hadley, Massachusetts 01075, USA) ,  Hawkins W. B. (Physics Department, Smith College, Northampton, Massachusetts 01063, USA) ,  Williams W. D. (Physics Department, Smith College, Northampton, Massachusetts 01063, USA)
資料名： Review of Scientific Instruments  (Review of Scientific Instruments)
巻： 89  号： 3  ページ： 033107-033107-7  発行年： 2018年 
JST資料番号： D0517A  ISSN： 0034-6748  CODEN： RSINAK  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 以前に測定した分子テルルと原子セシウム線を用いた温度安定化超低膨張(ULE)空洞の較正について報告した。二重周波数変調法により,ULE共振器の自由スペクトル範囲の周波数依存性を測定し,較正の~55THz範囲にわたり60Hz以下で変化することを見いだした。このキャリブレーション法はULE空洞を1.5MHz以上の絶対周波数を測定することを可能にする。(翻訳著者抄録)【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： *テルル ,  周波数 ,  共振器 ,  周波数依存性 ,  セシウム ,  スペクトル
準シソーラス用語： 二重周波数 ,  *高精度 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 力,仕事量,圧力,摩擦の計測法・機器  (AD05050V)

タイトルに関連する用語 (6件)： 分子 ,  テルル ,  分光法 ,  膨張 ,  空洞 ,  校正