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J-GLOBAL ID：201802228973818353   整理番号：18A2095710

Z上の光イオン化プラズマを研究するための光学Thomson散乱システムを実装するための実現可能性研究【JST・京大機械翻訳】

Feasibility Study for Implementing an Optical Thomson Scattering System for Studying Photoionized Plasmas on Z

著者 (3件)： Kozlowski Pawel M. (Department of Physics, West Virginia University, Morgantown, WV, USA) ,  Mancini Roberto C. (Department of Physics, The University of Nevada at Reno, Reno, NV, USA) ,  Koepke Mark E. (Department of Physics, West Virginia University, Morgantown, WV, USA)
資料名： IEEE Transactions on Plasma Science  (IEEE Transactions on Plasma Science)
巻： 46  号： 11  ページ： 3912-3921  発行年： 2018年 
JST資料番号： D0036B  ISSN： 0093-3813  CODEN： ITPSBD  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： X線連星,活性銀河核,コンパクト物体の降着円盤のような多くの天体物理学的環境は,光イオン化プラズマを有する。これらの明るいX線源の近くで見られる強い光イオン化環境は,スケールした実験室実験で生成でき,直接測定はこれら天体物理学的物体の解析に用いられる分光モデルと光イオン化コードのテストベッドを形成できる。このようなスケール化実験は,Z天体物理的プラズマ特性協調の一部としてZ施設上のNe充填ガスセルを用いて現在行われている。プラズマは密度の圧力センサと電荷状態分布のX線吸収分光法を用いて診断される。電子温度はLi様イオン準位占有率から現在推定されているが,光イオン化が電荷状態分布を変化させるので,独立した温度測定を得る必要があり,したがって,線比技術により得られる温度の誤差を引き起こす。光Thomson散乱は,中心プローブ周波数に関してプラズマ粒子速度の分布を直接プローブするので,フィッティング診断である。それは,電子密度,イオン温度,および平均イオン化と同様に,電子温度の時間および空間分解測定を生成できる強力な診断である。本論文では,X線分光測定を補完するための光学Thomson散乱システムの可能な設計を調べた。提案した設計は,利用可能な装置を用いるが,Zについてはまだ組み立てられていない。この新しい診断の実現可能性と影響の両方を,プラズマパラメータの範囲に対する予想されるスペクトルをシミュレートすることにより評価し,それによりこの診断の感度を実証した。Copyright 2018 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 電子密度 ,  温度測定 ,  *プラズマ ,  *イオン化 ,  *Thomson散乱 ,  プローブ ,  占有率 ,  周波数 ,  X線源 ,  イオン温度 ,  スペクトル ,  *光イオン化 ,  電子温度 ,  降着円盤
準シソーラス用語： 直接測定 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： プラズマ診断  (BJ02090L)

タイトルに関連する用語 (7件)： 光イオン化 ,  プラズマ ,  研究 ,  光学 ,  Thomson散乱 ,  実装 ,  実現可能性