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J-GLOBAL ID：201802229316755252   整理番号：18A1942863

同軸エアラインの電圧反射係数の計算とSCLでの測定不確実性の評価【JST・京大機械翻訳】

Calculation of Voltage Reflection Coefficients of Coaxial Airlines and Evaluation of Their Measurement Uncertainties at SCL

著者 (3件)： Lai H. W. (The Government of the Hong Kong Special Administrative Region Standards and Calibration Laboratory (SCL)) ,  Tsui C. M. (The Government of the Hong Kong Special Administrative Region Standards and Calibration Laboratory (SCL)) ,  Li H.W. (The Government of the Hong Kong Special Administrative Region Standards and Calibration Laboratory (SCL))
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2018  号： CPEM  ページ： 1-2  発行年： 2018年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 本論文では,同軸航空機の電圧反射係数(VRC)を計算し,モンテカルロ法によるそれらの測定不確実性を評価するために,標準および較正研究所(SCL)により開発された簡単なソフトウェアツールの使用について述べた。これらの結果を用いて,測定を行う前にベクトルネットワークアナライザを検証することができた。Copyright 2018 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： *航空会社 ,  *電圧 ,  支援プログラム ,  航空機 ,  *反射率 ,  モンテカルロ法
準シソーラス用語： ベクトルネットワークアナライザ ,  測定の不確かさ , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 図形・画像処理一般  (JE04010I)

タイトルに関連する用語 (6件)： 同軸 ,  エアライン ,  反射係数 ,  計算 ,  測定不確実性 ,  評価