文献

J-GLOBAL ID：201802229372133818   整理番号：18A0228656

ドープ処理ZnOナノ結晶中の表面プラズモン共鳴の最小線幅

Minimum Line Width of Surface Plasmon Resonance in Doped ZnO Nanocrystals

著者 (1件)： DELERUE Christophe (Univ. Lille, Lille, FRA)
資料名： Nano Letters  (Nano Letters)
巻： 17  号： 12  ページ： 7599-7605  発行年： 2017年12月 
JST資料番号： W1332A  ISSN： 1530-6984  CODEN： NALEFD  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： Al(Ga)でドーピングしたZnOナノ結晶(NC)の光応答を,量子閉込め,誘電率ミスマッチ,表面,及びイオン化不純物散乱の効果を考慮したモデルで計算した。NCが均一にドープ処理される場合は,NC直径が12nm以上であれば古典的Drude-Lorentz理論で表せる振動数での局在表面プラズモン共鳴(LSPR)で特性化できる。不純物散乱で限定されるLSPRピークの幅は,最近のナノ単結晶での実験値と一致する。線幅はドーパントがシェルに存在するか,NC内にさらなる部分遮蔽電荷が存在すると,著しく増加する。

シソーラス用語： ドーピング ,  *酸化亜鉛 ,  *アルミニウム ,  *ガリウム ,  ナノ結晶 ,  *プラズマ共鳴 ,  幅 ,  量子閉込め ,  誘電率 ,  キャリア散乱 ,  固体論 ,  電荷
準シソーラス用語： Drude-Lorentz理論 ,  Drude理論 ,  *局在表面プラズモン共鳴 ,  遮蔽効果 ,  *線幅 ,  不純物散乱

分類 (2件)： 塩基,金属酸化物  (CD01030Z) ,  固体プラズマ  (BM02160W)

タイトルに関連する用語 (5件)： ドープ処理 ,  ZnO ,  ナノ結晶 ,  表面プラズモン共鳴 ,  線幅