文献

J-GLOBAL ID：201802230134624717   整理番号：18A0249148

シリコンCMOSプロセスを用いたテラヘルツ検出器

著者 (2件)： 佐野栄一 (北大 量子集積エレクトロニクス研究セ) ,  池辺将之 (北大 大学院情報科学研究科)
資料名： シンポジウムテラヘルツ科学の最先端講演要旨集  (シンポジウムテラヘルツ科学の最先端)
巻： 2017  ページ： 31-35  発行年： 2017年 
JST資料番号： L6247A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： 半導体プロセス ,  *検出 ,  *光検出器 ,  ケイ素 ,  半導体 ,  MOSFET ,  利得 ,  復調器 ,  感度 ,  スロットアンテナ ,  *テラヘルツ波検出
準シソーラス用語： CMOSプロセス ,  アンテナ利得 ,  *テラヘルツ光検出

分類 (1件)： 赤外・遠赤外領域の測光と光検出器  (BD07032W)

タイトルに関連する用語 (4件)： シリコン ,  CMOSプロセス ,  テラヘルツ ,  検出器