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J-GLOBAL ID：201802230210564165   整理番号：18A0521677

再生IC検出のためのオンチップROセンサ【Powered by NICT】

On-chip RO-Sensor for Recycled IC Detection

著者 (5件)： Sahoo Sauvagya Ranjan ,  K Sudeendra ,  Mahapatra A. ,  Swain A.K. ,  Mahapatra K.K.
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017  号： iNIS  ページ： 252-256  発行年： 2017年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： サプライチェーンにおける再生ICの存在は重要な用途で使用されるエレクトロニクスシステムの信頼性に影響を与える。本論文では,再生ICを検出するためのリング発振器(RO)によるセンサーを開発した。が,ICは,短期間に使用されている,提案したセンサはそれを検出することができた。本論文では改質ROは負のバイアス温度安定性(NBTI)老化機構に敏感で示した。シミュレーションは再生ICの検出用に提案したセンサの効率を検証するために,90nm CMOS技術を用いて行った。さらに,カスケードインバータより多くのROは数日間使用ICを検出することができる。Copyright 2018 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： 信頼性 ,  CMOS ,  *センサ ,  バイアス ,  リング発振器
準シソーラス用語： NBTI ,  温度安定性 ,  サプライチェーン ,  *オンチップ , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (2件)： 固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G) ,  固体デバイス製造技術一般  (NC03030V)

タイトルに関連する用語 (3件)： IC ,  オンチップ ,  RO