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J-GLOBAL ID：201802231045681725   整理番号：18A0251015

IMPROVED CHARACTERIZATION OF CELL PHONE GLASS BY SEM/EDS WITH AN UPDATED SILICON DRIFT DETECTOR

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著者 (1件)：
KONOPKA John

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(Thermo Fisher Scientific, WI)

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資料名：
Materials Science & Technology Conference and Exhibition  (Materials Science & Technology Conference and Exhibition)

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巻： 2017 Vol.2  ページ： 937-942  発行年： 2017年 
JST資料番号： E0697C  資料種別： 会議録 (C)
発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)
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SEM

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EDS

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