文献

J-GLOBAL ID：201802231073835220   整理番号：18A2001304

プラズマ不純物放射モニタリングを目的としたガス電子増倍管の最適配置の研究【JST・京大機械翻訳】

Study of the optimal configuration for a Gas Electron Multiplier aimed at plasma impurity radiation monitoring

著者 (9件)： Chernyshova Maryna (Institute of Plasma Physics and Laser Microfusion, Hery 23, 01-497 Warsaw, Poland) ,  Malinowski Karol (Institute of Plasma Physics and Laser Microfusion, Hery 23, 01-497 Warsaw, Poland) ,  Melikhov Yevgen (School of Engineering, Cardiff University, CF24 3AA, Cardiff, UK) ,  Kowalska-Strzeciwilk Ewa (Institute of Plasma Physics and Laser Microfusion, Hery 23, 01-497 Warsaw, Poland) ,  Czarski Tomasz (Institute of Plasma Physics and Laser Microfusion, Hery 23, 01-497 Warsaw, Poland) ,  Wojenski Andrzej (Warsaw University of Technology, Institute of Electronic Systems, Nowowiejska 15/19, 00-665 Warsaw, Poland) ,  Linczuk Pawel (Institute of Plasma Physics and Laser Microfusion, Hery 23, 01-497 Warsaw, Poland) ,  Linczuk Pawel (Warsaw University of Technology, Institute of Electronic Systems, Nowowiejska 15/19, 00-665 Warsaw, Poland) ,  Krawczyk Rafal D. (Warsaw University of Technology, Institute of Electronic Systems, Nowowiejska 15/19, 00-665 Warsaw, Poland)
資料名： Fusion Engineering and Design  (Fusion Engineering and Design)
巻： 136  号： PA  ページ： 592-596  発行年： 2018年 
JST資料番号： T0497A  ISSN： 0920-3796  CODEN： FEDEEE  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： プラズマ不純物(特にタングステン)のレベルとトカマク(特にITER)におけるその分布再構成を監視する目的で,エネルギー識別によるガス電子多重値(GEM)検出器に基づく軟X線(SXR)トモグラフィー診断を広く考慮した。進歩したエレクトロニクスと結合して,GEM検出器は,SXR光子スペクトルをデコンボリューションできる電荷スペクトルと同様に,優れた時間と空間分解能を提供する。さらに,それらは標準半導体ダイオードと比較して中性子損傷を受けない。この寄与は,実験室試験に焦点を当てたこのような診断の開発を支持する最新の研究を強調する:(a)電子雪崩の特性と分布に及ぼすGEM孔形状の影響;(b)GEM箔性能に及ぼす高速光子フラックスの影響;c)最適電界分布。Copyright 2018 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： *トカマク ,  光子 ,  軟X線 ,  電子技術 ,  ダイオード ,  再構成 ,  電荷 ,  高速度 ,  タングステン ,  デコンボリューション ,  トモグラフィー ,  スペクトル ,  多重化
準シソーラス用語： *最適配置 ,  *プラズマ不純物 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (4件)： ホットプラズマ診断用の核機器 ,  X線検出器 ,  電子増倍管(ガス) ,  マイクロパターンガス検出器(MSGC GEM THGEM RETHGEM MPSP MICROPIC Micromegas Ingrid等)

分類 (1件)： 核融合装置  (BJ02083Z)

タイトルに関連する用語 (6件)： プラズマ ,  不純物放射 ,  モニタリング ,  電子増倍管 ,  最適配置 ,  研究