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J-GLOBAL ID:201802231424729108   整理番号:18A1437648

特殊エンジニアリングプラスチックテラヘルツ光学パラメータ測定および誤差解析【JST・京大機械翻訳】

Terahertz Optical Parameters Measurement and Error Analysis of Special Engineering Plastic
著者 (5件):
資料名:
巻: 38  号:ページ: 1368-1374  発行年: 2018年 
JST資料番号: C2093A  ISSN: 1000-0593  CODEN: GYGFED  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: 中国 (CHN)  言語: 中国語 (ZH)
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ポリフェニレンスルフィド(PPS),ポリエーテルイミド(PEI)およびそのガラス繊維強化材料(PPS-GF30,PEI-GF30)をサンプルとして,テラヘルツバンドのスペクトル特性を得た。まず、テラヘルツ時間領域スペクトルシステムを利用して、透過モードで、4種類の材料の自由空間の時間領域信号を測定した。次に,材料の屈折率と消衰係数を,光学パラメータの物理モデルとFresnel透過の式に従って計算し,物理モデルとFresnel式の解析法のシミュレーションも実施した。実験とアルゴリズムの合理性と信頼性を保障した。最後に,誤差伝搬理論に基づいて,光学パラメータ誤差を計算した。サンプルのそれぞれのテラヘルツ有効周波数バンドにおいて,実験を行った。PPS:n=1.8891.945(誤差0.0030.012),κ=0.0010.047,(誤差0.00010.0026)。PPS-GF30;n=1.6541.672(誤差0.0030.004),κ=0.0020.057(誤差0.00010.0028),PEI:n=1.713~1.733(誤差0.002~0.012),κ=0.005~0.035(誤差0.0001~0.0030),PEI-GF30;n=1.6881.732(誤差0.0030.004)、κ=0.0360.068(誤差0.00020.0026)。その結果;テラヘルツ超材料デバイスの基盤として、PPSは低周波数、PEIは高周波数に適し、ガラス繊維強化のPPS、PEIは純サンプルより、機械的性質の改善だけでなく、信号の検出にも有利である。有効周波数帯の高周波部分において,検出感度はより強かった。研究は、PPS、PEI及びそのガラス繊維強化材料のテラヘルツ帯域の基礎パラメータを提供し、テラヘルツ領域における超材料デバイスの研究に重要な参考を提供した。Data from Wanfang. Translated by JST.【JST・京大機械翻訳】
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, 【Automatic Indexing@JST】
分類 (3件):
分類
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分光分析  ,  ガラスの性質・分析・試験  ,  無機化合物のルミネセンス 
タイトルに関連する用語 (2件):
タイトルに関連する用語
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