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J-GLOBAL ID：201802232380731134   整理番号：18A0190021

自動車生産ラインのための異常値法の選択に関するいくつかの考察【Powered by NICT】

Some considerations on choosing an outlier method for automotive product lines

著者 (6件)： Wang Li-C. (University of California, Santa Barbara) ,  Siatkowski Sebastian (University of California, Santa Barbara) ,  Shan Chuanhe (University of California, Santa Barbara) ,  Nero Matthew (University of California, Santa Barbara) ,  Sumikawa Nikolas (NXP Semiconductors) ,  Winemberg LeRoy (NXP Semiconductors)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017  号： ITC  ページ： 1-10  発行年： 2017年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 異常値スクリーニングは自動車生産ラインに用い一般的な方法である。提案された多くの異常値法が提案されている。実際には,「最良」の異常値法を選択することが望ましい。本研究では,与えられたウエハの異常値法に関連する適用性の概念を開発した。適用性の尺度を提案し,実験結果は異常値を発見するための,いくつかの自動車生産ラインから集められたデータに基づく顧客利益の分析のためのその効果を説明するために提示した。Copyright 2018 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： スクリーニング ,  適応性 ,  *異常値

分類 (2件)： 固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G) ,  統計的品質管理  (KB04030W)

タイトルに関連する用語 (2件)： 自動車生産ライン ,  異常値