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J-GLOBAL ID：201802233058952308   整理番号：18A0281728

Ljubljanaマイクロプローブの新しい平行ビーム波長分散X線発光分光計【Powered by NICT】

New parallel beam wavelength dispersive X-ray emission spectrometer at Ljubljana microprobe

著者 (10件)： Kavcic Matjaz (Jozef Stefan Institute, Jamova 39, SI-1000 Ljubljana, Slovenia) ,  Petric Marko (Jozef Stefan Institute, Jamova 39, SI-1000 Ljubljana, Slovenia) ,  Petric Marko (Jozef Stefan International Postgraduate School, Jamova cesta 39, 1000 Ljubljana, Slovenia) ,  Gasser Franz (Jozef Stefan Institute, Jamova 39, SI-1000 Ljubljana, Slovenia) ,  Rupnik Zdravko (Jozef Stefan Institute, Jamova 39, SI-1000 Ljubljana, Slovenia) ,  Jencic Bostjan (Jozef Stefan Institute, Jamova 39, SI-1000 Ljubljana, Slovenia) ,  Kelemen Mitja (Jozef Stefan Institute, Jamova 39, SI-1000 Ljubljana, Slovenia) ,  Kelemen Mitja (Jozef Stefan International Postgraduate School, Jamova cesta 39, 1000 Ljubljana, Slovenia) ,  Pelicon Primoz (Jozef Stefan Institute, Jamova 39, SI-1000 Ljubljana, Slovenia) ,  Vavpetic Primoz (Jozef Stefan Institute, Jamova 39, SI-1000 Ljubljana, Slovenia)
資料名： Nuclear Instruments & Methods in Physics Research. Section B. Beam Interactions with Materials and Atoms  (Nuclear Instruments & Methods in Physics Research. Section B. Beam Interactions with Materials and Atoms)
巻： 404  ページ： 81-86  発行年： 2017年 
JST資料番号： H0899A  ISSN： 0168-583X  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： J.Stefan研究所のマイクロプローブで構築し,設置されている集束陽子マイクロビームを用いた高エネルギー分解能PIXE分析のための新しい平行ビーム波長分散X線発光分光計。ポリキャピラリーX線光学をX線収集の立体角を強化し,平坦な結晶の回折を用いて解析した準平行ビームに収集した陽子誘起X線を変換するために用いられる。分光計は,真空チャンバに取り付け,2~10keVエネルギー範囲で動作する。主な特性と操作特性は最初の特性化測定の結果と共に提示した。最後に,二選択した実験例は原子物理学におけるPIXE分析と基礎研究におけるスペクトロメータの能力を説明する示した。Copyright 2018 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】

シソーラス用語： 集束 ,  *X線 ,  エネルギー分解能 ,  陽子 ,  キャラクタリゼーション ,  *分光計 ,  *X線ルミネセンス ,  真空容器 ,  スペクトロメータ ,  *マイクロプローブ
準シソーラス用語： 立体角 ,  X線光学 ,  マイクロビーム ,  *波長分散 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (2件)： 波長分散分光計 ,  プロトン誘起X線放出

分類 (1件)： 粒状物調査測定  (SB03060E)

タイトルに関連する用語 (5件)： マイクロプローブ ,  平行ビーム ,  波長分散 ,  X線発光 ,  分光計