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J-GLOBAL ID：201802233384389800   整理番号：18A0187793

データ量のための埋込み圧縮機能を持つ再構成可能なTAPコントローラ【Powered by NICT】

Reconfigurable TAP controllers with embedded compression for large test data volume

著者 (3件)： Huhn Sebastian (University of Bremen, Germany) ,  Eggersglus Stephan (University of Bremen, Germany) ,  Drechsler Rolf (University of Bremen, Germany)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017  号： DFT  ページ： 1-6  発行年： 2017年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 最新集積回路設計のモジュール方式は試験とデバッギングの間に接近性の観点から新しい要求,特にポストシリコン相で得た。IEEE1149.1テストアクセスポート(TAP)コントローラは,一般的には設計に導入し,必要なアクセスを可能にするために組み込まれている外部ハードウェア装置。しかし,このTAPによる大規模データ転送高コストの原因となる。,テストアプリケーション時間とテストデータ量を顕著に低減するTAPに導入した埋込み圧縮アーキテクチャ。,試験データの再標的化が重要な課題である。本研究は,大きなおよび高エントロピー試験データ処理が埋め込まれた圧縮を利用する分割に基づく形式的再標的化技法を提案した。提案した技術は,以前に提案したリターゲティングアプローチの欠点,大型試験データ量の実用的計算努力を必要とするか,あるいは,テスト適用時間に悪影響を引き起こすに取り組んでいる。提案した方法を評価するために,適切なパラメータセットを決定するために処理したいくつかの異なるテストデータセット。結果で示されたように,この方法は平均の場合は巨額の高エントロピー試験データの圧縮37.3%,最新の工業設計のための機能検証試験を62.5%まで可能にした。さらに,テスト適用時間に有害影響を完全に回避し,手順は常に合理的な実行時間内で終了する。Copyright 2018 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： ターゲティング ,  計算機アーキテクチャ ,  *制御装置 ,  エントロピー ,  ハードウェア ,  インダストリアルデザイン ,  データ処理 ,  アクセシビリティ ,  デバッギング
準シソーラス用語： 実行時間 ,  検証試験 ,  試験データ ,  大規模データ ,  集積回路設計 ,  *データ量 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G)

タイトルに関連する用語 (5件)： データ量 ,  埋込み ,  再構成 ,  TAP ,  コントローラ