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J-GLOBAL ID:201802233510050756   整理番号:18A2107458

Siemens次世代SiPMベースPET/CTスキャナのための結晶ベースのデッドタイム補正【JST・京大機械翻訳】

Crystal-based Deadtime Correction for Siemens Next Generation SiPM based PET/CT Scanner
著者 (3件):
資料名:
巻: 2017  号: NSS/MIC  ページ: 1-5  発行年: 2017年 
JST資料番号: W2441A  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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正確な定量的PET画像を得るために,再構成プロセスの前に正規化と散乱のために適切なデータ補正法を持つことが不可欠である。正規化は検出器のデッドタイムとその成分の一部としてのコインシデンスエレクトロニクスを含む。本研究の範囲は,ステップとシュートの取得に適用できる結晶レベルでの新しいデッドタイムモデルを調べることである。市販のPETスキャナのためのデッドタイム補正モデルは,その単純さのためにブロックまたはブロックのグループに基づいて典型的に実装される。しかし,検出器ブロック内の各結晶の計数性能は検出器設計とスキャナエレクトロニクスにより異なる。本研究では,ランダムなサイノグラムから結晶計数率を計算する方法を検討し,エレクトロニクスにおけるデッドタイムに適応するための一致応答を特性化した。検出器内の対称性を用いることにより,結晶レベルで簡単なデッドタイムモデルを生成できる。Copyright 2018 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】
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, 【Automatic Indexing@JST】
分類 (1件):
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図形・画像処理一般 

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