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J-GLOBAL ID：201802233632542244   整理番号：18A2005113

単一ショットX線位相コントラストイメージングのための代替エッジ照明セットアップ【JST・京大機械翻訳】

Alternative edge illumination set-up for single-shot X-ray phase contrast imaging

著者 (4件)： Zhang Cui (School of Nuclear Science and Technology, Lanzhou University, Lanzhou 730000, China) ,  Pan Xiaodong (School of Nuclear Science and Technology, Lanzhou University, Lanzhou 730000, China) ,  Shang Hongjie (School of Nuclear Science and Technology, Lanzhou University, Lanzhou 730000, China) ,  Li Gongping (School of Nuclear Science and Technology, Lanzhou University, Lanzhou 730000, China)
資料名： Journal of Applied Physics  (Journal of Applied Physics)
巻： 124  号： 16  ページ： 164906-164906-11  発行年： 2018年 
JST資料番号： C0266A  ISSN： 0021-8979  CODEN： JAPIAU  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： エッジ照明(EI)は有望なX線位相コントラストイメージング(XPCI)技術であり,XPCIを実験室X線源による実用化に変換することが期待されている。しかし,従来の二重マスクEI装置は,位相と吸収情報を抽出するための二つの取得を必要とする。最新の単一マスクEI装置は単一ショットによる位相回復を可能にするが,それはほぼ理想的な検出器点像分布関数(PSF)を必要とする。本論文では,二重マスクのままであるが,単一ショットのみを必要とする代替EI装置を提案した。それは,単一ショットXPCIを実行することができて,検出器要求を緩和することができた。数値計算を行い,二重および単一マスクEIセットアップの特性と提案したセットアップを比較した。異なる照明条件でのこの装置の性能を理論的に評価した。結果は,提案したセットアップが,単一マスクEIセットアップと比較して,検出器PSFによる影響が少なく,したがって,より高いコントラストとコントラスト対雑音比を持つことを示唆した。位相回復はこの装置により単一ショットで実行でき,これは操作を単純化し,二重マスクEI装置における潜在誤差を除去するのに役立つ。狭い照明幅はコントラストに寄与するが,放射利用効率に悪影響を及ぼし,実際の応用と実験条件に従って,いくつかの適切なトレードオフを選択すべきである。この装置に基づいて,定量的位相と吸収情報の抽出も数値計算によって行った。Copyright 2018 AIP Publishing LLC All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 点像分布関数 ,  *コントラスト ,  *位相 ,  簡素化 ,  照明条件 ,  X線源 ,  *X線 ,  放射効率 ,  位相回復 ,  検出器 ,  数値計算 ,  *照明 ,  *粒状材
準シソーラス用語： コントラスト雑音比 ,  *位相コントラストイメージング , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： X線技術  (BA02060D)

タイトルに関連する用語 (6件)： ショット ,  X線位相コントラストイメージング ,  代替 ,  エッジ ,  照明 ,  セットアップ