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J-GLOBAL ID:201802234096983515   整理番号:18A2007143

光を用いた微粒子計測に関する研究

著者 (3件):
資料名:
号:ページ: 115-117  発行年: 2018年07月31日 
JST資料番号: Z0272D  ISSN: 2434-2726  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 短報  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
抄録/ポイント:
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産業が高度化するにつれて重要性が増している,数nm~100nm程度の粒子測定をより手軽にする手法を開発するため,本研究では,測定レンジが広く様々な材質に対応していることから広く用いられている,光散乱による粒子計測手法に焦点をあて研究を実施した。平成29年度は光の照射方法を検討するとともに,微弱な散乱光検出のため,半導体素子のため特性が安定していて,光測定感度が高いMPPC(Multi Pixel Photon Counter)を用いた光検出回路を設計,作成した。(著者抄録)
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準シソーラス用語:
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分類 (1件):
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長さ,面積,断面,体積,容積,角度の計測法・機器 
引用文献 (5件):
  • 松田朋信:気中パーティクルカウンタ,リオン株式会社 技術報告(2013)
  • J.D. Jackson (西田稔 訳):ジャクソン電磁気学原書第2版(吉岡出版,京都),pp.506-508(1994)
  • 堀裕和,井上哲也:ナノスケールの光学-ナノ光科学の電磁気学的基礎-(オーム社,東京),pp.154-156(2006)
  • Y. Ohdaira,T. Inoue,H. Hori,K. Kitahara:Local circular polarization observed in surface vortices of optical near-fields,OPTICS EXPRESS,Vol.16,No.5,pp.2915-2921(2008)
  • 浜松ホトニクス:光半導体素子ハンドブック,(浜松ホトニクス,静岡),pp.56-72
タイトルに関連する用語 (3件):
タイトルに関連する用語
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