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J-GLOBAL ID：201802234810400657   整理番号：18A2043850

光学系に基づくC_f/SiC複合繊維束表面のキャラクタリゼーション【JST・京大機械翻訳】

Characterization of C_f/SiC Composite Fiber Bundle Surface Based on an Optical System

著者 (3件)： Wei Jin Hua (Tianjin University, State Education Ministry Key Laboratory of Advanced Ceramics and Machining Technology; Tianjin, China, 300072) ,  Wang Hao Ji (Tianjin University, State Education Ministry Key Laboratory of Advanced Ceramics and Machining Technology; Tianjin, China, 300072) ,  Lin Bin (Tianjin University, State Education Ministry Key Laboratory of Advanced Ceramics and Machining Technology; Tianjin, China, 300072)
資料名： Solid State Phenomena  (Solid State Phenomena)
巻： 281  ページ： 336-342  発行年： 2018年 
JST資料番号： T0583A  ISSN： 1012-0394  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： スイス (CHE)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 従来の接触装置は,表面損傷とサンプリング誤差を引き起こす可能性がある表面を引かきすることによって,材料の表面粗さを測定した。これらのトラブルを避けるために,本論文では光学測定システムを用いた。C_f/SiC複合材料の異方性および不均一表面構造を考慮して,マルチスケール測定システムを確立しなければならない。繊維束は,適切な測定パラメータがここで研究される最初のスケールである。サンプリング面積が150μm×150μmで,サンプリングステップが0.1μmから0.5μmのとき,3D表面パラメータSa,Sq,SskおよびSkuの値は定常であり,それらの相対変化は小さい。適切なサンプリング長さを選択するために,2D表面粗さRaを採用した。結果は,サンプリング長さが112μm以上である限り,2D表面粗さRaの平均値は比較的安定であることを示した。臨界サンプリング長はISO 468-1982における標準最小サンプリング長の約1/7である。得られた結果によると,本研究は,C_f/SiC複合繊維束表面測定の適切なサンプリング条件に関する決定のための有用な指針を提供する。Copyright 2018 Trans Tech Publications Ltd. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： パラメータ ,  ラジウム ,  *複合繊維 ,  *キャラクタリゼーション ,  複合材料 ,  臨界 ,  表面構造 ,  二次元 ,  異方性 ,  計測システム ,  *炭化ケイ素 ,  表面粗さ ,  三次元 ,  接触装置
準シソーラス用語： マルチスケール , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (4件)： 光学的測定 ,  サンプリングステップ ,  サンプリング長 ,  C_f/SiC複合繊維束表面

分類 (2件)： 長さ,面積,断面,体積,容積,角度の計測法・機器  (AD05020O) ,  光学的測定とその装置一般  (BD07010S)

タイトルに関連する用語 (3件)： 光学系 ,  SiC ,  キャラクタリゼーション