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J-GLOBAL ID：201802235346087947   整理番号：18A0195495

マイクロ波地下イメージングのための反射場較正法【Powered by NICT】

Reflected-field calibration technique for microwave subsurface imaging

著者 (2件)： Govind Greeshmaja (Department of Electrical Engineering, Indian Institute of Technology, Kanpur, Kanpur, India) ,  Akhtar M. J. (Department of Electrical Engineering, Indian Institute of Technology, Kanpur, Kanpur, India)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017  号： APMC  ページ： 1353-1356  発行年： 2017年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 反射場キャリブレーション法に基づいた新しいマイクロ波表面下撮像方式を本論文で提案した。この方法では,試験物体の反射パラメータは第一標準RF測定システムを用いて測定し,続いて,電場値に変換した。同じ測定条件での試験物体のものと知られている試料の反射電場を比較すれば,この変換の基礎を形成する。知られている試料の反射電場を事前に計算した。イメージングシステムは観察下の領域を走査し連続的にアンテナで構成されている。歪波Born反復法を逆散乱問題を解くための採用した。数値シミュレーションから逆解析の結果は,提案した方法の性能と適用性を示した。測定した反射係数データからの時間領域再構成手順も含まれている。Copyright 2018 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： 再構成 ,  反射率 ,  *画像処理 ,  計測システム ,  電場 ,  逐次近似 ,  適応性 ,  *マイクロ波 ,  歪波 ,  シミュレーション ,  撮像
準シソーラス用語： 時間領域 ,  逆解析 ,  数値シミュレーション ,  逆散乱問題 ,  イメージングシステム , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 図形・画像処理一般  (JE04010I)

タイトルに関連する用語 (4件)： マイクロ波 ,  地下 ,  イメージング ,  較正