文献

J-GLOBAL ID：201802235469427392   整理番号：18A0156580

ケーキ形成に及ぼす単分散粒子状汚染物の表面電荷の影響【Powered by NICT】

Effect of the surface charge of monodisperse particulate foulants on cake formation

著者 (10件)： Han Qi (School of Chemical and Biomedical Engineering, Nanyang Technological University, Singapore) ,  Han Qi (Singapore Membrane Technology Centre, Nanyang Environment and Water Research Institute, Nanyang Technological University, Singapore) ,  Han Qi (Interdisciplinary Graduate School, Nanyang Technological University, Singapore) ,  Li Weiyi (School of Chemical and Biomedical Engineering, Nanyang Technological University, Singapore) ,  Li Weiyi (Singapore Membrane Technology Centre, Nanyang Environment and Water Research Institute, Nanyang Technological University, Singapore) ,  Trinh Thien An (School of Chemical and Biomedical Engineering, Nanyang Technological University, Singapore) ,  Trinh Thien An (Singapore Membrane Technology Centre, Nanyang Environment and Water Research Institute, Nanyang Technological University, Singapore) ,  Fane Anthony G. (Singapore Membrane Technology Centre, Nanyang Environment and Water Research Institute, Nanyang Technological University, Singapore) ,  Chew Jia Wei (School of Chemical and Biomedical Engineering, Nanyang Technological University, Singapore) ,  Chew Jia Wei (Singapore Membrane Technology Centre, Nanyang Environment and Water Research Institute, Nanyang Technological University, Singapore)
資料名： Journal of Membrane Science  (Journal of Membrane Science)
巻： 548  ページ： 108-116  発行年： 2018年 
JST資料番号： E0669A  ISSN： 0376-7388  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 精密ろ過及び限外ろ過では,粒子状汚染物質は必然的に膜表面に析出した,その構造と挙動は,懸濁液のろ過性に重要な役割を果たすケーキを形成した。本研究では,三種類のラテックス粒子状汚染物の,同じサイズ(3μm)であるが異なる表面電荷を用いたファウリングの影響を調べた。驚いたことに,正に帯電されたアミノ化ラテックスは負に荷電した膜との静電相互作用によるフラックス低下実験における最悪を発揮することが期待されたが,このラテックスは二負に帯電したラテックスに比べて最良の性能を示した。これらの反直感的結果を理解するために,新しいネットワークモデル(Han.,2017)[1]および三次元(3D)光コヒーレンストモグラフィー(OCT)画像解析(Li.,2016)[2]を用いて,種々のファウリング挙動の根底にある理由を明らかにした。二つの機構は,負に帯電したラテックスの悪い性能に寄与することが分かった。最初に,これらの粒子は反発粒子-膜静電相互作用,より完全な細孔閉塞をもたらし,それによってより大きな初期ケーキ抵抗に起因する膜の非ポア領域よりもむしろ細孔上に堆積する傾向があった。第二に,これらの粒子は同様に斥力粒子-膜と粒子-粒子相互作用のため,他の堆積したラテックス,より不均一なケーキをもたらし,それによってより大きな比ケーキ抵抗にクラスタと鉱床へのより大きな傾向を有していた。Copyright 2018 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】

シソーラス用語： ラテックス ,  *表面電荷 ,  静電相互作用 ,  懸濁液 ,  クラスタ ,  閉塞 ,  画像分析 ,  三次元 ,  精密濾過 ,  斥力 ,  浮遊粒子状物質 ,  限外濾過 ,  *汚染物質 ,  細孔
準シソーラス用語： ファウリング , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (5件)： 膜ファウリング ,  表面電荷 ,  ネットワークモデル ,  光コヒーレンストモグラフィー ,  精密ろ過

分類 (1件)： 膜分離  (XD02120Z)

タイトルに関連する用語 (4件)： ケーキ ,  単分散 ,  汚染物 ,  表面電荷