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J-GLOBAL ID：201802236338733600   整理番号：18A0001253

環境セルを用いたSiCの照射下酸化挙動の直接観察

著者 (3件)： 橋本直幸 (北大 大学院工学研究院) ,  長倉宏樹 (北大 大学院工学研究院) ,  礒部繁人 (北大 大学院工学研究院)
資料名： 日本顕微鏡学会北海道支部学術講演会講演要旨集  (Abstracts. General Meeting of Japanese Society of Microscopy. Hokkaido Branch)
巻： 2016  ページ： 10  発行年： 2016年12月10日 
JST資料番号： L6116A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *炭化ケイ素 ,  集束イオンビーム ,  *原子炉材料 ,  電子照射 ,  *透過型走査電子顕微鏡 ,  *酸化 ,  X線分光法 ,  発光分光法 ,  その場観察 ,  腐食機構 ,  炉心材料 ,  酸化挙動 ,  軟X線発光分光法 ,  機構
準シソーラス用語： *SiC ,  FIB ,  電子線照射 ,  走査透過型電子顕微鏡 ,  SXES

分類 (2件)： 電子顕微鏡,イオン顕微鏡  (BD02050B) ,  原子炉炉心・制御系  (MD04020T)

タイトルに関連する用語 (4件)： 環境 ,  セル ,  SiC ,  酸化挙動