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J-GLOBAL ID：201802236574757531   整理番号：18A1812342

COTS CMOSセンサに基づくX線顕微鏡イメージングシステム【JST・京大機械翻訳】

X-ray micrographic imaging system based on COTS CMOS sensors

著者 (22件)： Alcalde Bessia Fabricio (Laboratorio de Bajas Temperaturas and Division de Fisica Medica, Centro Atomico Bariloche, CNEA, Av. Bustillo 9500, San Carlos de Bariloche, Argentina) ,  Alcalde Bessia Fabricio (Instituto Balseiro, Av. Bustillo 9500, San Carlos de Bariloche, Argentina) ,  Alcalde Bessia Fabricio (Consejo Nacional de Investigaciones Cientificas y Tecnicas, Buenos Aires, Argentina) ,  Perez Martin (Laboratorio de Bajas Temperaturas and Division de Fisica Medica, Centro Atomico Bariloche, CNEA, Av. Bustillo 9500, San Carlos de Bariloche, Argentina) ,  Perez Martin (Instituto Balseiro, Av. Bustillo 9500, San Carlos de Bariloche, Argentina) ,  Lipovetzky Jose (Laboratorio de Bajas Temperaturas and Division de Fisica Medica, Centro Atomico Bariloche, CNEA, Av. Bustillo 9500, San Carlos de Bariloche, Argentina) ,  Lipovetzky Jose (Instituto Balseiro, Av. Bustillo 9500, San Carlos de Bariloche, Argentina) ,  Lipovetzky Jose (Consejo Nacional de Investigaciones Cientificas y Tecnicas, Buenos Aires, Argentina) ,  Piunno Natalia Alejandra (Consejo Nacional de Investigaciones Cientificas y Tecnicas, Buenos Aires, Argentina) ,  Mateos Horacio (Instituto Balseiro, Av. Bustillo 9500, San Carlos de Bariloche, Argentina) ,  Sidelnik Ivan (Division de Fisica de Neutrones, Centro Atomico Bariloche, CNEA, Av. Bustillo 9500, San Carlos de Bariloche, Argentina) ,  Sidelnik Ivan (Instituto Balseiro, Av. Bustillo 9500, San Carlos de Bariloche, Argentina) ,  Sidelnik Ivan (Consejo Nacional de Investigaciones Cientificas y Tecnicas, Buenos Aires, Argentina) ,  Blostein Juan Jeronimo (Division de Fisica de Neutrones, Centro Atomico Bariloche, CNEA, Av. Bustillo 9500, San Carlos de Bariloche, Argentina) ,  Blostein Juan Jeronimo (Instituto Balseiro, Av. Bustillo 9500, San Carlos de Bariloche, Argentina) ,  Blostein Juan Jeronimo (Consejo Nacional de Investigaciones Cientificas y Tecnicas, Buenos Aires, Argentina) ,  Sofo Haro Miguel (Laboratorio de Bajas Temperaturas and Division de Fisica Medica, Centro Atomico Bariloche, CNEA, Av. Bustillo 9500, San Carlos de Bariloche, Argentina) ,  Sofo Haro Miguel (Instituto Balseiro, Av. Bustillo 9500, San Carlos de Bariloche, Argentina) ,  Sofo Haro Miguel (Consejo Nacional de Investigaciones Cientificas y Tecnicas, Buenos Aires, Argentina) ,  Gomez Berisso Mariano (Laboratorio de Bajas Temperaturas and Division de Fisica Medica, Centro Atomico Bariloche, CNEA, Av. Bustillo 9500, San Carlos de Bariloche, Argentina) ,  Gomez Berisso Mariano (Instituto Balseiro, Av. Bustillo 9500, San Carlos de Bariloche, Argentina) ,  Gomez Berisso Mariano (Consejo Nacional de Investigaciones Cientificas y Tecnicas, Buenos Aires, Argentina)
資料名： International Journal of Circuit Theory and Applications  (International Journal of Circuit Theory and Applications)
巻： 46  号： 10  ページ： 1848-1857  発行年： 2018年 
JST資料番号： H0341B  ISSN： 0098-9886  CODEN： ICTACV  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 本論文では,高い空間分解能を有するX線画像の取得のために,大陸棚CMOSイメージセンサの市販の使用を提示した。生物学,電子部品検査および古生物学研究に応用されるX線画像は,Cu管から8keV光子を用いて得られる。検出器の量子効率を,センサ中の光子の減衰長を用いて推定し,従来のシンチレータ変換層と比較した。センサで観測された空間分解能は,Siとの光子相互作用後に生成された電荷再分布によって制限される。Copyright 2018 Wiley Publishing Japan K.K. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 電子部品 ,  *センサ ,  空間分解能 ,  ケイ素 ,  光子 ,  *CMOS ,  量子効率 ,  *X線顕微鏡 ,  検出器 ,  X線画像 ,  相互作用 ,  シンチレータ ,  大陸棚
準シソーラス用語： 電荷再分布 ,  *イメージングシステム , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (5件)： CMOS ,  CMOSイメージセンサ ,  放射線測定 ,  VLSI ,  X線応用

分類 (1件)： 図形・画像処理一般  (JE04010I)

タイトルに関連する用語 (4件)： COTS ,  CMOSセンサ ,  X線顕微鏡 ,  イメージングシステム