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J-GLOBAL ID：201802237025345862   整理番号：18A0720752

異なる周波数量子化位相比較に基づく高精度周波数測定システム【JST・京大機械翻訳】

High-precision frequency measurement system based on different frequency quantization phase comparison

著者 (7件)： Du Baoqiang (School of Electronic Information Engineering, Zhengzhou University of Light Industry, Zhengzhou 450002, China) ,  Li Songlin (School of Electronic Information Engineering, Zhengzhou University of Light Industry, Zhengzhou 450002, China) ,  Huang Guangming (Science and Technology on Electronic Information Control Laboratory, Chengdu 610036, China) ,  Geng Xin (School of Electronic Information Engineering, Zhengzhou University of Light Industry, Zhengzhou 450002, China) ,  Li Zhuo (School of Electronic Information Engineering, Zhengzhou University of Light Industry, Zhengzhou 450002, China) ,  Deng Ran (School of Electronic Information Engineering, Zhengzhou University of Light Industry, Zhengzhou 450002, China) ,  Mo Cuishu (School of Electronic Information Engineering, Zhengzhou University of Light Industry, Zhengzhou 450002, China)
資料名： Measurement  (Measurement)
巻： 122  ページ： 220-223  発行年： 2018年 
JST資料番号： W0315B  ISSN： 0263-2241  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 周波数正規化のない位相比較の要求を目的として,高精度周波数測定システムを異なる周波数量子化位相比較に基づいて提案した。最も一般的な多重周期における群位相差パルスを用いて,周波数標準信号の周期,測定信号の周期,および群位相差のパルス幅を,FPGA技術の助けを借りて,それぞれ数えることができた。得られたカウンター値を保存し,ホストコンピュータに送った。測定した周波数は,ホストコンピュータのデータ処理によって得ることができる。実験結果は,E-12/sより良いシステムの短期周波数安定性が達成されることを示した。従来の周波数測定システムと比較して,このシステムは広い測定範囲,高周波安定性,低位相雑音および低開発コストの利点を有した。このシステムは,高精度伝送や時間と周波数の比較,位相雑音の測定と抑制のような正確な測定物理分野で重要な役割を果たすだけでなく,空間運動放射源,衛星航法装置,正確な時間周波数測定,通信,レーダ,その他のハイテク分野の局在化に広い応用がある。Copyright 2018 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： FPGA ,  パルス ,  周波数安定度 ,  HF【周波数】 ,  レーダ ,  *周波数測定 ,  衛星航法 ,  *位相 ,  位相雑音 ,  パルス幅 ,  データ処理 ,  *周波数 ,  *量子化
準シソーラス用語： 位相差 ,  *高精度 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (5件)： 最大共通因子周期 ,  グループ位相差 ,  異なる周波数量子化位相比較 ,  位相グループ処理 ,  周波数測定

分類 (1件)： 波形,周波数,波長,位相の計測法・機器  (AD07040Y)

タイトルに関連する用語 (3件)： 量子化 ,  位相 ,  周波数測定