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J-GLOBAL ID：201802237446198029   整理番号：18A2204351

Bi系超伝導線材の引張り時損傷過程の観察

著者 (4件)： 大田諒 (富山大 工) ,  笠場孝一 (富山大 工) ,  久森真 (富山大 工) ,  長部吾郎 (住友電気工業)
資料名： 低温工学・超電導学会講演概要集  (低温工学・超電導学会研究発表会講演概要集)
巻： 97th  ページ： 26  発行年： 2018年11月19日 
JST資料番号： G0564B  ISSN： 0919-5998  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： Bi系超伝導線材の静的な,あるいは繰り返しの引張り負荷に対して,臨界電流が劣化していく結果は,これまでも報告されている。しかしその際のフィラメント部の損傷経過は,明らかになっていなかった。今回,フィラメント部を一部露出させた試料の,負荷前後の定点観察によって,特に異相周辺の組織が脱落していく様子を,一方で多少の組織脱落にも関わらず,臨界電流は高いレベルを維持していることを確認した。(著者抄録)

シソーラス用語： *ビスマス化合物 ,  *高温超伝導体 ,  *超伝導線 ,  臨界電流 ,  引張応力 ,  破壊 ,  線材 ,  劣化
準シソーラス用語： テープ線材 ,  引張破壊 ,  *超伝導線材

分類 (2件)： 酸化物系超伝導体の物性  (BM04023I) ,  電線・ケーブル  (NA05020S)

タイトルに関連する用語 (5件)： Bi ,  超伝導線材 ,  引張り ,  損傷過程 ,  観察