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J-GLOBAL ID:201802237792102217   整理番号:18A0239889

X線吸収微細構造により研究したTlInSe_2熱電材料における格子歪【Powered by NICT】

Lattice Distortions in TlInSe2 Thermoelectric Material Studied by X-Ray Absorption Fine Structure
著者 (6件):
資料名:
巻: 215  号:ページ: ROMBUNNO.201700416  発行年: 2018年 
JST資料番号: D0774A  ISSN: 1862-6300  CODEN: PSSABA  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: ドイツ (DEU)  言語: 英語 (EN)
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Tl L_IIおよびin K X線吸収微細構造(XAFS)測定は,約135Kの不整合-整合相転移温度を含む25 300Kの温度範囲でTlInSe_2熱電材料で行った。XA FS測定から得られた結合長の大部分は室温で既存のX線回折データと良く一致し,Tl相関は矛盾値熱力学的性質から期待されるTl鎖の整合特性を示している。XA FSデータをX線蛍光ホログラフィーから再構成された三次元原子画像で見出されたTl原子の位置変動を明確に支持した。Copyright 2018 Wiley Publishing Japan K.K. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】
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分類 (1件):
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半導体結晶の電気伝導 
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