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J-GLOBAL ID：201802238102642198   整理番号：18A0187731

5GHzまで低損失基板上の集積スパイラルインダクタのモデル化インダクタンスと品質因子【Powered by NICT】

Modeling inductance and quality factor of integrated spiral inductors on low-loss substrates up to 5 GHz

著者 (2件)： Allen Wesley N. (Electrical and Computer Engineering, Birck Nanotechnology Center Purdue University, West Lafayette, Indiana, 47907, USA) ,  Peroulis Dimitrios (Electrical and Computer Engineering, Birck Nanotechnology Center Purdue University, West Lafayette, Indiana, 47907, USA)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017  号： COMCAS  ページ： 1-6  発行年： 2017年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 痕跡導体の全三次元におけるカレント密度変化,特に低損失基板上の高性能受動部品のための標的を考慮に入れたインダクタモデルを提示した。モデルパラメータの多変量多項式代理モデルを生成することにより,損失は,金属損失によって支配される5GHzまでのインダクタンスと品質係数の正確な予測が達成され,導体電流密度はすべての次元における高度に不均一である。全波シミュレーションと比較して,モデルで予測したインダクタンスは12%誤差以内であり,の構造96-98%で13%以内の誤差で品質因子を予測した。モデルは100msのオーダに周波数依存インダクタンスと品質係数を予測するCopyright 2018 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： *モデリング ,  電流密度 ,  三次元 ,  周波数依存性 ,  シミュレーション ,  *インダクタンス ,  導体
準シソーラス用語： 品質係数 ,  代用モデル ,  モデルパラメータ ,  受動素子 ,  *品質因子 ,  *スパイラルインダクタ , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (2件)： LCR部品  (NA05030D) ,  集積回路一般  (NC03161C)

タイトルに関連する用語 (6件)： 低損失 ,  集積 ,  スパイラルインダクタ ,  モデル化 ,  インダクタンス ,  品質因子