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J-GLOBAL ID：201802238150629916   整理番号：18A0190026

大きな累積ジッタを含む有意に緩和した計装による正確なA DC試験【Powered by NICT】

Accurate ADC testing with significantly relaxed instrumentation including large cumulative jitter

著者 (5件)： Xu Li (Iowa State University) ,  Zhuang Yuming (Iowa State University) ,  Thinakaran Rajavelu (Texas Instruments) ,  Butler Kenneth M. (Texas Instruments) ,  Chen Degang (Iowa State University)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017  号： ITC  ページ： 1-10  発行年： 2017年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： スペクトル試験と直線性試験は,ADC試験における二つの重要なカテゴリーである。サンプリングクロック品質は,ADCスペクトル試験における重要な因子である。サンプリングクロックの累積クロックジッタは,ADC出力スペクトルの基本成分における電力漏れを生成し,ランダムクロックジッタは,ADC出力スペクトルのノイズフロア,ADCのスペクトル結果を汚染を増加させた。サンプリングクロックジッタにもかかわらずA DC仕様を正確に推定するための新しいアルゴリズムを提案した。A DC出力系列を小部分に分割した。各セグメントは互いに,それらの初期相は互いに良く一致するようと対である。各セグメント対の差を解析することにより,雑音電力はクロックジッタから分離され,正確に推定した。各セグメントでは,推定した局所累積ジッタを除去することにより,累積クロックジッタによる漏れが除去され,正確な調和および非調和平情報が得られた。標準試験法と比較してシミュレーションと測定結果は,新しい解の精度とロバスト性を確認した。この方法は高精度サンプリングクロックに厳しい試験要件を緩和し有意とテストコストと複雑さ,低コストオンチップ試験の可能性を劇的に減少させた。Copyright 2018 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： ロバスト性 ,  線形性 ,  アルゴリズム ,  電力 ,  品質 ,  スペクトル ,  *ジッタ ,  雑音
準シソーラス用語： オンチップ ,  ローコスト ,  高精度 ,  試験方法 ,  クロックジッタ ,  サンプリングクロック , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (2件)： AD・DA変換回路  (NC05080M) ,  半導体集積回路  (NC03162T)

タイトルに関連する用語 (6件)： 累積 ,  ジッタ ,  緩和 ,  計装 ,  DC ,  試験