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J-GLOBAL ID：201802239960679589   整理番号：18A0969436

細胞モデルにおける3D粒子によるCsシードH-イオン源におけるH-抽出機構とビーム光学に対する表面生成H-イオンとH+イオン間のCoulomb衝突の影響【JST・京大機械翻訳】

Effect of Coulomb collision between surface produced H^- ions and H⁺ ions on H^- extraction mechanism and beam optics in a Cs-seeded H^- ion source by 3D particle in cell model

著者 (5件)： Nishioka S. (Graduate School of Science and Technology, Keio University, Hiyoshi, Kouhoku-ku, Yokohama 223-8522, Japan) ,  Abe S. (Graduate School of Science and Technology, Keio University, Hiyoshi, Kouhoku-ku, Yokohama 223-8522, Japan) ,  Miyamoto K. (Naruto University of Education, 748 Nakashima, Takashima, Naruto-cho, Naruto-shi, Tokushima 772-8502, Japan) ,  Fukano A. (Tokyo Metropolitan College of Industrial Technology, Higashioi, Shinagawa, Tokyo 140-011, Japan) ,  Hatayama A. (Graduate School of Science and Technology, Keio University, Hiyoshi, Kouhoku-ku, Yokohama 223-8522, Japan)
資料名： Journal of Applied Physics  (Journal of Applied Physics)
巻： 123  号： 6  ページ： 063302-063302-11  発行年： 2018年 
JST資料番号： C0266A  ISSN： 0021-8979  CODEN： JAPIAU  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 最近,核融合応用のためのCsシードH-イオン源において,実験は,表面生成H-イオンが主にバルクプラズマ領域から抽出されることを示した。すなわち,ビーム開口から1~2cmである。本論文の目的は,ビーム開口の近傍に対するセルモデルにおける3次元粒子による核融合応用のためのCsシードH-イオン源におけるバルクプラズマ領域からの表面生成H-イオンの抽出機構を明らかにすることである。本モデルにおいて,表面生成H-イオンとH+イオン(CC H--H+)間のCoulomb衝突を,二成分衝突モデルにより考慮した。著者らのモデルによって,抽出された表面のトラジェクトリーが,H-イオンを生成し,ビームプロファイルが,CC H--H+の有無にかかわらず,研究された。抽出された表面に対するトラジェクトリーの結果から,H-イオンを生成する表面は,バルクのプラズマ領域から抽出されたH-イオンが,CC H--H+により劇的に増加することが示された。したがって,著者らの結果は,H+イオンとのCoulomb衝突により,表面が生成したH-イオンがバルクプラズマ領域から抽出されることを示した。さらに,ビームプロファイルの結果は,CC H--H+がビーム収束成分の増加を引き起こすことを示した。これらの結果から,表面生成H-イオンとH+イオン間のCoulomb衝突は,核融合応用のためのCsシードH-イオン源における抽出機構とビーム光学のモデリングに非常に重要であることを示した。(翻訳著者抄録)【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： *ビーム光学 ,  *三次元 ,  核融合 ,  開口 ,  プラズマ ,  *イオン源 ,  *モデル ,  トラジェクトリー ,  モデリング ,  セルモデル ,  近傍 ,  *細胞モデル

分類 (4件)： プラズマ装置  (BJ02082I) ,  電子ビーム,イオンビーム  (BD02030F) ,  電子源,イオン源  (BD02020U) ,  核融合装置  (BJ02083Z)

タイトルに関連する用語 (8件)： 細胞モデル ,  3D ,  Cs ,  イオン源 ,  ビーム光学 ,  イオン ,  Coulomb ,  衝突