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J-GLOBAL ID:201802239960679589   整理番号:18A0969436

細胞モデルにおける3D粒子によるCsシードH-イオン源におけるH-抽出機構とビーム光学に対する表面生成H-イオンとH+イオン間のCoulomb衝突の影響【JST・京大機械翻訳】

Effect of Coulomb collision between surface produced H- ions and H+ ions on H- extraction mechanism and beam optics in a Cs-seeded H- ion source by 3D particle in cell model
著者 (5件):
資料名:
巻: 123  号:ページ: 063302-063302-11  発行年: 2018年 
JST資料番号: C0266A  ISSN: 0021-8979  CODEN: JAPIAU  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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最近,核融合応用のためのCsシードH-イオン源において,実験は,表面生成H-イオンが主にバルクプラズマ領域から抽出されることを示した。すなわち,ビーム開口から1~2cmである。本論文の目的は,ビーム開口の近傍に対するセルモデルにおける3次元粒子による核融合応用のためのCsシードH-イオン源におけるバルクプラズマ領域からの表面生成H-イオンの抽出機構を明らかにすることである。本モデルにおいて,表面生成H-イオンとH+イオン(CC H--H+)間のCoulomb衝突を,二成分衝突モデルにより考慮した。著者らのモデルによって,抽出された表面のトラジェクトリーが,H-イオンを生成し,ビームプロファイルが,CC H--H+の有無にかかわらず,研究された。抽出された表面に対するトラジェクトリーの結果から,H-イオンを生成する表面は,バルクのプラズマ領域から抽出されたH-イオンが,CC H--H+により劇的に増加することが示された。したがって,著者らの結果は,H+イオンとのCoulomb衝突により,表面が生成したH-イオンがバルクプラズマ領域から抽出されることを示した。さらに,ビームプロファイルの結果は,CC H--H+がビーム収束成分の増加を引き起こすことを示した。これらの結果から,表面生成H-イオンとH+イオン間のCoulomb衝突は,核融合応用のためのCsシードH-イオン源における抽出機構とビーム光学のモデリングに非常に重要であることを示した。(翻訳著者抄録)【JST・京大機械翻訳】
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分類 (4件):
分類
JSTが定めた文献の分類名称とコードです
プラズマ装置  ,  電子ビーム,イオンビーム  ,  電子源,イオン源  ,  核融合装置 

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